[发明专利]集成电路结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201810203742.2 申请日: 2018-03-13
公开(公告)号: CN110176452B 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 王子嵩 申请(专利权)人: 力晶积成电子制造股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/525;H01L21/60
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种集成电路结构及其制造方法,该集成电路结构包括基底、堆叠结构与多个第一接触窗。堆叠结构设置于基底上,且包括交错堆叠设置的多个第一介电层与多个导体层。堆叠结构具有贯穿导体层的多个开口。第一接触窗位于开口中。第一接触窗的底部位于不同高度位置。第一接触窗与导体层以一对一的方式进行电连接。互不电连接的第一接触窗与导体层彼此隔离设置。
搜索关键词: 集成电路 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种集成电路结构,其特征在于,包括:基底;堆叠结构,设置于所述基底上,且包括交错堆叠设置的多个第一介电层与多个导体层,其中所述堆叠结构具有贯穿所述多个导体层的多个开口;以及多个第一接触窗,位于所述多个开口中,其中所述多个第一接触窗的底部位于不同高度位置,所述多个第一接触窗与所述多个导体层以一对一的方式进行电连接,且互不电连接的所述多个第一接触窗与所述多个导体层彼此隔离设置。
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