[发明专利]系统LSI以及系统LSI的故障检测方法在审
申请号: | 201810177821.0 | 申请日: | 2018-03-05 |
公开(公告)号: | CN109508315A | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 大久保直昭;田边淳 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | G06F15/167 | 分类号: | G06F15/167 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 房永峰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种系统LSI,具备:第1组,包括第1CPU以及第1模块;第2组,包括第2CPU以及与上述第1模块相同构造的第2模块;以及共用存储器,包括在来自上述第1组的访问中被保持缓存一致性的第1区域、以及在来自上述第2组的访问中被保持缓存一致性的第2区域,上述共用存储器与上述第1组以及上述第2组电连接,上述第1组具有在上述第1CPU与上述第1模块之间保持缓存一致性的第1母线、以及将上述第1母线与上述第1模块电连接的第2母线,上述第2组具有在上述第2CPU与上述第2模块之间保持缓存一致性的第3母线、以及将上述第3母线与上述第2模块电连接的第4母线。 | ||
搜索关键词: | 母线 缓存一致性 系统LSI 共用存储器 模块电连接 故障检测 电连接 访问 | ||
【主权项】:
1.一种系统LSI,其特征在于,具备:第1组,包括第1CPU以及第1模块;第2组,包括第2CPU以及与上述第1模块相同构造的第2模块;以及共用存储器,包括在来自上述第1组的访问中被保持缓存一致性的第1区域、以及在来自上述第2组的访问中被保持缓存一致性的第2区域,上述共用存储器与上述第1组以及上述第2组电连接,上述第1组具有在上述第1CPU与上述第1模块之间保持缓存一致性的第1母线、以及将上述第1母线与上述第1模块电连接的第2母线,上述第2组具有在上述第2CPU与上述第2模块之间保持缓存一致性的第3母线、以及将上述第3母线与上述第2模块电连接的第4母线。
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