[发明专利]一种舱段装配精度的确定方法、装置及存储介质有效
| 申请号： | 201810139178.2 | 申请日： | 2018-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN108469241B | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 张婷玉;李杰;姚文昊;王洁;钟扬;裴天河 | 申请（专利权）人： | 航天材料及工艺研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种舱段装配精度的确定方法、装置及存储介质，属于制造质量预测与控制领域。本发明实施例提供的舱段装配精度的确定方法，通过确定两待对接面的距离值的极小值点，根据所述极小值点确定两个待对接面的接触点，通过确定的接触点对接两个待对接平面，对接后计算两待对接面的装配精度，从而判断两对接舱段对接面的加工精度是否符合使用要求，该方法考虑了舱段对接面形状误差因素，对舱段对接装配误差进行高精度预测，提高制造质量预测的准确性，为实装提供指导依据，避免了盲目加工及对接导致的资源浪费。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 装配 精度 确定 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种舱段装配精度的确定方法，其特征在于，包括：获取第一待对接面与第二待对接面的距离集，所述距离集为所述第一待对接面与所述第二待对接面上对应的两点间的距离值的集合；根据所述距离集确定极小值点集及对应的第一采样点集和第二采样点集，其中，所述极小值点集为距离值的极小值的集合，所述第一采样点集为极小值点对应的所述第一待对接面上的采样点的集合，所述第二采样点集为所述极小值点对应的所述第二待对接面上的采样点的集合；根据确定的极小值点集及对应的第一采样点集和第二采样点集，确定所述第一待对接面与所述第二待对接面的三组接触点；根据确定的三组接触点，对接所述第一待对接面与所述第二待对接面从而确定装配精度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于航天材料及工艺研究所;中国运载火箭技术研究院，未经航天材料及工艺研究所;中国运载火箭技术研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810139178.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
