[发明专利]一种舱段装配精度的确定方法、装置及存储介质

说明书

本发明公开了一种舱段装配精度的确定方法、装置及存储介质，属于制造质量预测与控制领域。本发明实施例提供的舱段装配精度的确定方法，通过确定两待对接面的距离值的极小值点，根据所述极小值点确定两个待对接面的接触点，通过确定的接触点对接两个待对接平面，对接后计算两待对接面的装配精度，从而判断两对接舱段对接面的加工精度是否符合使用要求，该方法考虑了舱段对接面形状误差因素，对舱段对接装配误差进行高精度预测，提高制造质量预测的准确性，为实装提供指导依据，避免了盲目加工及对接导致的资源浪费。

技术领域

本发明涉及一种舱段装配精度的确定方法、装置及存储介质，属于制造质量预测与控制领域。

背景技术

航天器多数为多段组合式结构，在制造过程中需要通过对接来实现舱体的整体装配，因而，舱段对接技术在航空航天领域的应用非常广泛。

由于复合材料的高强度，低密度等优良特性，使得其广泛地应用在航空航天领域。航天器对对接精度有严格要求，然而，由于复合材料加工难度大，加工精度低，容易造成舱段端面的平面度较低，因而亟需一种对接精度确定方法，来预测两舱段的对接精度，从而判断两对接舱段对接面的加工精度是否符合使用要求，以避免盲目加工及对接导致的资源浪费。

发明内容

本发明的目的提供一种舱段装配精度的确定方法、装置及存储介质。该方法可在实际装配前确定两舱段装配精度，以避免盲目加工及对接导致的资源浪费。

为实现上述发明目的，本发明提供如下技术方案：

一种舱段装配精度的确定方法，其特征在于，包括：

获取第一待对接面与第二待对接面的距离集，所述距离集为所述第一待对接面与所述第二待对接面上对应的两点间的距离值的集合；

根据所述距离集确定极小值点集及对应的第一采样点集和第二采样点集，其中，所述极小值点集为距离值的极小值的集合，所述第一采样点集为极小值点对应的所述第一待对接面上的采样点的集合，所述第二采样点集为所述极小值点对应的所述第二待对接面上的采样点的集合；

根据确定的极小值点集及对应的第一采样点集和第二采样点集，确定所述第一待对接面与所述第二待对接面的三组接触点；

根据确定的三组接触点，对接所述第一待对接面与所述第二待对接面从而确定装配精度。

在一可选实施例中，所述获取第一待对接面与第二待对接面的距离集，包括：

分别建立第一待对接面的第一局部坐标系和第二待对接面的第二局部坐标系，并确定第一待对接面上的预设采样点在所述第一局部坐标系下的第一局部坐标集和第二待对接面上的预设采样点在所述第二局部坐标系下的第二局部坐标集；

将所述第一局部坐标集和第二局部坐标集分别转化成第一坐标集和第二坐标集，其中，所述第一坐标集为第一待对接面上的预设采样点的全局坐标值的集合，所述第二坐标集为第二待对接面上的预设采样点的全局坐标值的集合；

根据所述第一坐标集和第二坐标集，确定第一待对接面与第二待对接面的距离集。

在一可选实施例中，所述根据确定的极小值点集及对应的第一采样点集和第二采样点集，确定所述第一待对接面与所述第二待对接面的接触点，包括：

从确定的极小值点集中任意选取三个极小值点，建立平面方程；

将所述距离集中除所述三个极小值点之外的距离值对应的x轴和Y轴坐标值带入所述平面方程中，求解对应的Z轴坐标值；

判断求解的Z轴坐标值是否全部小于其对应的所述距离值；

若是，则确定所述任意选取的三个极小值点对应的所述第一采样点集中的三个采样点，和所述第二采样点集中的三个采样点为三组准接触点；