[发明专利]一种舱段装配精度的确定方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种舱段装配精度的确定方法，其特征在于，包括：

获取第一待对接面与第二待对接面的距离集，所述距离集为所述第一待对接面与所述第二待对接面上对应的两点间的距离值的集合；

根据所述距离集确定极小值点集及对应的第一采样点集和第二采样点集，其中，所述极小值点集为距离值的极小值的集合，所述第一采样点集为极小值点对应的所述第一待对接面上的采样点的集合，所述第二采样点集为所述极小值点对应的所述第二待对接面上的采样点的集合；

根据确定的极小值点集及对应的第一采样点集和第二采样点集，确定所述第一待对接面与所述第二待对接面的三组接触点；

根据确定的三组接触点，对接所述第一待对接面与所述第二待对接面从而确定装配精度。

2.根据权利要求1所述的舱段装配精度的确定方法，其特征在于，所述获取第一待对接面与第二待对接面的距离集，包括：

分别建立第一待对接面的第一局部坐标系和第二待对接面的第二局部坐标系，并确定第一待对接面上的预设采样点在所述第一局部坐标系下的第一局部坐标集和第二待对接面上的预设采样点在所述第二局部坐标系下的第二局部坐标集；

将所述第一局部坐标集和第二局部坐标集分别转化成第一坐标集和第二坐标集，其中，所述第一坐标集为第一待对接面上的预设采样点的全局坐标值的集合，所述第二坐标集为第二待对接面上的预设采样点的全局坐标值的集合；

根据所述第一坐标集和第二坐标集，确定第一待对接面与第二待对接面的距离集。

3.根据权利要求1所述的舱段装配精度的确定方法，其特征在于，所述根据确定的极小值点集及对应的第一采样点集和第二采样点集，确定所述第一待对接面与所述第二待对接面的接触点，包括：

从确定的极小值点集中任意选取三个极小值点，建立平面方程；

将所述距离集中除所述三个极小值点之外的距离值对应的x轴和Y轴坐标值带入所述平面方程中，求解对应的Z轴坐标值；

判断求解的Z轴坐标值是否全部小于其对应的所述距离值；

若是，则确定所述任意选取的三个极小值点对应的所述第一采样点集中的三个采样点，和所述第二采样点集中的三个采样点为三组准接触点；

判断所述第一待对接面或所述第二待对接面的几何中心是否能投影到所述三个极小值点构成的三角形内；

若是，则将所述三组准接触点确定为三组接触点。

4.根据权利要求3所述的舱段装配精度的确定方法，其特征在于，所述判断所述第一待对接面或所述第二待对接面的几何中心是否能投影到所述三个极小值点构成的三角形内，包括：

将所述三个极小值点和所述几何中心投影到同一平面上，对应得到点P1’、P2’、P3’、P4’，根据式(1)判断所述第一待对接面或所述第二待对接面的几何中心是否能都投影到所述三个极小值点构成的三角形内：

θ₁₂+θ₁₃+θ₂₃＝180° (1)

其中，

5.根据权利要求1所述的舱段装配精度的确定方法，其特征在于，所述对接所述第一待对接面与所述第二待对接面从而确定装配精度，包括：

旋转所述第一待对接面或所述第二待对接面，使所述第一待对接面和所述第二待对接面上的三组接触点接触；

根据旋转角度及所述第一待对接面与所述第二待对接面的初始同轴度，确定装配精度。