[发明专利]氧化硅膜和氮化硅膜的表面处理方法有效
申请号: | 201810134901.8 | 申请日: | 2018-02-09 |
公开(公告)号: | CN108346572B | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 卢朋;李松举;祝汉泉;谢志生;苏君海;李建华 | 申请(专利权)人: | 信利(惠州)智能显示有限公司 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311;H01J37/32 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 叶剑 |
地址: | 516029 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种氧化硅膜和氮化硅膜的表面处理方法,包括如下步骤:在真空腔室内,对第一混合气体进行第一次电离操作,得到第一等离子体,采用第一等离子体对基板上的氧化硅膜和氮化硅膜进行第一次刻蚀操作;第一混合气体为氧气和四氟化碳,第一混合气体进气口对应于基板的中心位置;在真空腔室内,对第二混合气体进行第二次电离操作,得到第二等离子体,采用第二等离子体对基板上的氧化硅膜和氮化硅膜进行第二次刻蚀操作;第二混合气体为碳氟气体、氢气和氩气,四个第二混合气体进气口与基板的四个边角一一对应。上述表面处理方法,能够较好地使得基板表面的氧化硅膜和氮化硅膜进一步地被刻蚀修复,能够解决氧化硅膜和氮化硅膜层加厚问题、多镀问题。 | ||
搜索关键词: | 氧化 氮化 表面 处理 方法 | ||
【主权项】:
1.一种氧化硅膜和氮化硅膜的表面处理方法,其特征在于,包括如下步骤:在真空腔室内,对第一混合气体进行第一次电离操作,得到第一等离子体,采用所述第一等离子体对基板上的氧化硅膜和氮化硅膜进行第一次刻蚀操作;其中,所述第一混合气体为氧气和四氟化碳,所述真空腔室内侧壁上设置有第一混合气体进气口,所述第一混合气体进气口对应于所述基板的中心位置;在真空腔室内,对第二混合气体进行第二次电离操作,得到第二等离子体,采用所述第二等离子体对基板上的氧化硅膜和氮化硅膜进行第二次刻蚀操作;其中,所述第二混合气体为碳氟气体、氢气和氩气,所述真空腔室内侧壁上设置有四个第二混合气体进气口,四个所述第二混合气体进气口与所述基板的四个边角一一对应。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造