[发明专利]一种基于DDR的测试装置在审
| 申请号： | 201810094030.1 | 申请日： | 2013-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN108333500A | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 陆放 | 申请（专利权）人： | 深圳市爱德特科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海三方专利事务所 31127 | 代理人： | 吴玮 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于DDR的测试装置，创新性地使用FPGA电路以及输出输入标准及模式的可调性设计出相应的测试装置，代替了现行测量设备相应电子线路。不但极大提高了性能同时也极大地降低了线路功耗，关键设计的物理尺寸及成本。另外，还创新性地使用FPGA的高速数据传输性能将大量测试数据高速传输到直接与被测元件连接的器件上，解决了关键设计微型化瓶颈之一。进一步地，将直流及低速性能测式的相关电路与高速测试电路完全分离,在实施各自测试时才与被测元件相接使两电路互不影响,而在需要共同连接在一起做相应测试时也能将其连接在一起。因此大大降低了功耗，物理尺寸及成本，具有很好的市场推广应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 测试装置 被测元件 创新性地 关键设计 电路 高速测试电路 高速数据传输 微型化 测试 测量设备 测试数据 低速性能 电子线路 高速传输 市场推广 输入标准 完全分离 线路功耗 可调性 功耗 瓶颈 输出 应用 | ||
【主权项】：
1.一种基于DDR的测试装置，其特征在于，使用DDR内存作为测试数据储存。
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