[发明专利]一种基于DDR的测试装置在审
| 申请号： | 201810094030.1 | 申请日： | 2013-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN108333500A | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 陆放 | 申请（专利权）人： | 深圳市爱德特科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海三方专利事务所 31127 | 代理人： | 吴玮 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试装置 被测元件 创新性地 关键设计 电路 高速测试电路 高速数据传输 微型化 测试 测量设备 测试数据 低速性能 电子线路 高速传输 市场推广 输入标准 完全分离 线路功耗 可调性 功耗 瓶颈 输出 应用 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于DDR的测试装置，其特征在于，使用DDR内存作为测试数据储存。
2.一种基于DDR内存的测试装置，用于对被测元件的电子元件性能进行测试，其特征在于，测试数据储存于高速DDR内存中而非传统的SRAM中以达到高速度，高容量及低成本。
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