[发明专利]一种广域ADC误差修正测试方法及装置有效
| 申请号： | 201810065975.0 | 申请日： | 2018-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN108387834B | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 杨景阳;刘路扬;陈波;吕兵;吕乐;刘净月 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李莎;李弘 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种广域ADC误差修正测试方法及装置，通过采用标准ADC分析得出外围运放电路带来的误差并对待测ADC进行误差补偿，从而能够消除外围运放电路误差给待测ADC带来的影响，能够准确反映待测ADC的真实性能，为之后进行更为准确的ADC测试提供条件，实现广域ADC的误差修正测试；同时，当信号源或外围电路或待测ADC变化时，使用者无需重新计算，能够方便地对不同待测ADC进行误差修正测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 广域 adc 误差 修正 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种广域ADC误差修正测试方法，其特征在于，包括：采用同一信号源通过同一组外围运放电路同步驱动待测ADC与标准ADC，使得所述待测ADC和所述标准ADC同时进行模数转换；分别采集所述待测ADC和所述标准ADC的数字输出，并对所述数字输出进行数模转化和线性误差修正，获得所述待测ADC和所述标准ADC的输出拟合直线；通过所述标准ADC的输出拟合直线和所述标准ADC的理想拟合直线，分析得出所述外围运放电路带来的误差；将所述误差补偿至所述待测ADC的输出拟合直线中，获得所述待测ADC的真实波形，并利用所述待测ADC的真实波形测试所述待测ADC的参数。
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