[发明专利]一种广域ADC误差修正测试方法及装置

说明书

本发明公开了一种广域ADC误差修正测试方法及装置，通过采用标准ADC分析得出外围运放电路带来的误差并对待测ADC进行误差补偿，从而能够消除外围运放电路误差给待测ADC带来的影响，能够准确反映待测ADC的真实性能，为之后进行更为准确的ADC测试提供条件，实现广域ADC的误差修正测试；同时，当信号源或外围电路或待测ADC变化时，使用者无需重新计算，能够方便地对不同待测ADC进行误差修正测试。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别是指一种广域ADC误差修正测试方法及装置。

背景技术

广域ADC(Analog-to-Digital Converter，模数转换器)泛指输入模拟量电压幅值较广的ADC，它的作用是将模拟信号转换为数字信号。受限于当前集成电路测试设备的硬件及软件资源能力，广域ADC检测时需要增加外围运算放大电路来间接地提升测试设备的硬件资源能力，以满足检测的需要，然而，引入了外围运放电路的同时也引入了外围运放电路带来的误差，这些外围运放电路带来的误差会影响ADC测试的测试精度，降低了ADC测试结果的可靠性。

现有技术中，往往采用传统的电压补偿法进行广域ADC的测试，即：测量运算放大器的输出电压，推算该输出电压与理论值的误差，再通过外围运放电路配置反推外围运放电路的输入电压误差，将该输入电压误差补偿至信号源提供的斜波电压中，从而抵消外围运放电路带来的误差。然而，这种方法需要进行大量的测量及计算，一次计算的结果对不同的电路或元件不具有普适性，必须重新进行测量计算，过程繁琐，操作不便，大大增加了本领域技术人员的工作量，降低测试效率；同时，该推算误差的精度有赖于对外围运放电路电阻的测量准确度，测试误差将直接影响误差补偿的准确度，从而降低ADC测试结果的精度。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种广域ADC误差修正测试方法及装置，能够消除外围运放电路带来的误差，提高广域ADC的测试准确度。

基于上述目的本发明提供的一种广域ADC误差修正测试方法包括：

采用同一信号源通过同一组外围运放电路同步驱动待测ADC与标准ADC，使得所述待测ADC和所述标准ADC同时进行模数转换；

分别采集所述待测ADC和所述标准ADC的数字输出，并对所述数字输出进行数模转化和线性误差修正，获得所述待测ADC和所述标准ADC的输出拟合直线；

通过所述标准ADC的输出拟合直线和所述标准ADC的理想拟合直线，分析得出所述外围运放电路带来的误差；

将所述误差补偿至所述待测ADC的输出拟合直线中，获得所述待测ADC的真实波形，并利用所述待测ADC的真实波形测试所述待测ADC的参数。

可选地，所述采用同一信号源通过同一组外围运放电路同步驱动待测ADC与标准ADC可以替换为：

采用同一信号源通过两组完全相同的外围运放电路分别驱动待测ADC和标准ADC，使得所述待测ADC和所述标准ADC同时进行模数转换；或者，

采用两个完全相同的信号源通过两组完全相同的外围运放电路分别同步驱动待测ADC和标准ADC，使得所述待测ADC和所述标准ADC同时进行模数转换。

可选地，所述分析得出所述外围运放电路带来的误差包括：通过所述标准ADC的输出拟合直线的斜率k₁、纵截距b₁和所述标准ADC的理想拟合直线的斜率k₂、纵截距b₂，得出所述外围电路带来的增益误差g和失调误差e，其中：