[发明专利]一种广域ADC误差修正测试方法及装置

权利要求书

1.一种广域ADC误差修正测试方法，其特征在于，包括：

采用同一信号源通过同一组外围运放电路同步驱动待测ADC与标准ADC，使得所述待测ADC和所述标准ADC同时进行模数转换；

分别采集所述待测ADC和所述标准ADC的数字输出，并对所述数字输出进行数模转化和线性误差修正，获得所述待测ADC和所述标准ADC的输出拟合直线；

通过所述标准ADC的输出拟合直线和所述标准ADC的理想拟合直线，分析得出所述外围运放电路带来的误差；

将所述误差补偿至所述待测ADC的输出拟合直线中，获得所述待测ADC的真实波形，并利用所述待测ADC的真实波形测试所述待测ADC的参数；

所述分析得出所述外围运放电路带来的误差包括：通过所述标准ADC的输出拟合直线的斜率k₁、纵截距b₁和所述标准ADC的理想拟合直线的斜率k₂、纵截距b₂，得出所述外围运放电路带来的增益误差g和失调误差e，其中：

2.根据权利要求1所述的误差修正测试方法，其特征在于，所述采用同一信号源通过同一组外围运放电路同步驱动待测ADC与标准ADC替换为：

采用同一信号源通过两组完全相同的外围运放电路分别驱动待测ADC和标准ADC，使得所述待测ADC和所述标准ADC同时进行模数转换；或者，

采用两个完全相同的信号源通过两组完全相同的外围运放电路分别同步驱动待测ADC和标准ADC，使得所述待测ADC和所述标准ADC同时进行模数转换。

3.根据权利要求1所述的误差修正测试方法，其特征在于，所述将所述误差补偿至所述待测ADC的输出拟合直线中包括：将待测ADC输出拟合直线的斜率与所述增益误差的乘积作为所述真实波形的斜率，将待测ADC输出拟合直线的纵截距与所述失调误差的和作为所述真实波形的纵截距，从而得到所述待测ADC的真实波形。

4.根据权利要求1所述的误差修正测试方法，其特征在于，所述信号源采用24位以上的信号源；所述标准ADC采用24位以上的ADC。

5.一种广域ADC误差修正测试装置，其特征在于，包括：

驱动模块，用于采用同一信号源通过同一组外围运放电路同步驱动待测ADC与标准ADC，使所述待测ADC及所述标准ADC进行模数转换；

采集转换模块，用于分别采集经所述待测ADC和所述标准ADC的模数转换后的输出结果，并将所述输出结果进行高精度的数模转换，得到所述待测ADC和所述标准ADC的输出拟合直线；

线性修正模块，用于对所述待测ADC和所述标准ADC的输出拟合直线进行线性误差修正；

误差分析模块，用于利用所述标准ADC的输出拟合直线及所述标准ADC的理想拟合直线，得出所述外围运放电路带来的误差；

误差补偿模块，用于将分析得出的所述外围运放电路带来的误差补偿至所述待测ADC的输出拟合直线中，得到所述待测ADC在排除外围运放电路的误差后的真实输出波形；以及

测试模块，用于利用所述待测ADC的真实输出波形，测定所述待测ADC的参数；

所述误差分析模块得出所述外围运放电路带来的误差包括：通过所述标准ADC的输出拟合直线的斜率k₁、纵截距b₁和所述标准ADC的理想拟合直线的斜率k₂、纵截距b₂，得出所述外围运放电路带来的增益误差g和失调误差e，其中：

6.根据权利要求5所述的误差修正测试装置，其特征在于，所述驱动模块包括信号源模块和外围运放电路。

7.根据权利要求6所述的误差修正测试装置，其特征在于，所述信号源模块设置为信号源或外部信号源连接端口，所述信号源或外部信号源采用24位以上的信号源，所述标准ADC采用24位以上的ADC。

8.根据权利要求5所述的误差修正测试装置，其特征在于，所述误差补偿模块将所述误差补偿至所述待测ADC的输出拟合直线中包括：将待测ADC输出拟合直线的斜率与所述增益误差的乘积作为所真实输出波形的斜率，将待测ADC输出拟合直线的纵截距与所述失调误差的和作为所述真实输出波形的纵截距，从而得到所述待测ADC的真实输出波形。