[发明专利]一种全温OTA测试装置及方法有效
申请号: | 201810060132.1 | 申请日: | 2018-01-22 |
公开(公告)号: | CN110086550B | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 付吉祥 | 申请(专利权)人: | 中国移动通信有限公司研究院;中国移动通信集团有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;H04B17/391 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 高洁;张颖玲 |
地址: | 100053 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种全温OTA测试装置及方法,其中,所述装置包括微波暗室和温箱,其中;所述微波暗室,用于对基站的天线进行OTA测试;所述温箱设置在所述微波暗室内,用于对所述基站的远端射频模块RRU进行全温测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 ota 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种全温空口OTA测试装置,其特征在于,所述装置包括微波暗室和温箱,其中;所述微波暗室,用于对基站的天线进行OTA测试;所述温箱设置在所述微波暗室内,用于对所述基站的远端射频模块RRU进行全温测试。
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