[发明专利]一种全温OTA测试装置及方法

权利要求书

1.一种全温空口OTA测试装置，其特征在于，所述装置包括微波暗室和温箱，其中；

所述微波暗室，用于对基站的天线进行OTA测试；

所述温箱设置在所述微波暗室内，用于对所述基站的远端射频模块RRU进行全温测试，所述温箱箱体材料满足对电磁波低损耗的要求。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述微波暗室包括转台系统，所述温箱放置在所述转台系统上。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述温箱的箱体采用单层材料制成，或所述温箱的箱体采用多层材料叠加而制成。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，制成所述温箱的箱体的材料为低介电常数的材料和低传导系数的材料。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述制成所述温箱的箱体的材料为聚四氟乙烯材料或二氧化硅气凝胶材料；

所述多层材料为采用两层聚四氟乙烯材料做夹板，夹板中间填充二氧化硅气凝胶颗粒的材料。

6.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括用于对所述基站的RRU提供温度控制的温控系统；

所述温控系统设置在所述微波暗室的外部，通过管道与温箱连接。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述微波暗室还包括测量天线，所述转台系统设置在所述微波暗室的一侧，所述测量天线设置在所述微波暗室的另一侧；

所述温箱设置在所述转台系统的上方，所述温控系统通过管道连接所述箱体。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述温控系统包括控制系统、传感器系统、制冷系统、制热系统、静音空气循环系统和控制面板，其中：

所述控制系统，用于根据传感器系统采集的温度控制制冷系统、制热系统、静音空气循环系统以对温箱箱体内的温度进行控制，控制系统还用于接收控制面板的用户指令，执行用户指令，并向控制面板反馈执行结果；

所述传感器系统，用于采集的温箱箱体内的温度，并将温度发送给控制面板；

所述制冷系统，用于通过制冷对温箱箱体内的温度进行低温控制；

所述制冷系统，用于通过制热对温箱箱体内的温度进行高温控制；

所述静音空气循环系统，用于对空气循环过程中进行静音，并将空气循环后的空气通过管道传输给温箱箱体；

所述控制面板，用于接收用户指令，并将用户指令传输给控制系统，接收控制系统反馈的执行结果，并将执行结果显示给用户；所述控制面板还用于接收传感器系统采集的温箱箱体内的温度，并将温度显示给用户。

9.根据权利要求1至8任一项所述的装置，其特征在于，所述基站为高频一体化基站。

10.一种全温空口OTA测试方法，其特征在于，所述方法包括：

将基站放置在全温OTA测试装置的微波暗室中的温箱中；

通过所述温箱对放置在所述基站施加全温；

在施加全温的过程中，所述基站发出的信号经过所述温箱辐射出去后经测量对所述基站的天线进行OTA测试。