[发明专利]检测用基板、组合体以及检测用基板的制造方法有效
申请号: | 201780097076.2 | 申请日: | 2017-11-24 |
公开(公告)号: | CN111373272B | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
发明(设计)人: | 指田和之;铃木健一;山地瑞枝;吉田贤一;九里伸治 | 申请(专利权)人: | 新电元工业株式会社 |
主分类号: | G01R15/18 | 分类号: | G01R15/18;G01R19/00;H01F5/00 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的检测用基板150,包括:主体膜1a,具有贯穿孔91;绕组部10,设置在所述主体膜1a的一侧的面、另一侧的面以及所述贯穿孔91中,将检测的电流的包围;以及绕回线部50,设置在所述主体膜1a上,与所述绕组部10的末端部连接后从所述末端部绕回起始端侧。 | ||
搜索关键词: | 检测 用基板 组合 以及 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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