[发明专利]检测用基板、组合体以及检测用基板的制造方法有效
申请号: | 201780097076.2 | 申请日: | 2017-11-24 |
公开(公告)号: | CN111373272B | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
发明(设计)人: | 指田和之;铃木健一;山地瑞枝;吉田贤一;九里伸治 | 申请(专利权)人: | 新电元工业株式会社 |
主分类号: | G01R15/18 | 分类号: | G01R15/18;G01R19/00;H01F5/00 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 用基板 组合 以及 制造 方法 | ||
1.一种检测用基板,其特征在于,包括:
主体膜,具有贯穿孔;
绕组部,设置在所述主体膜的一侧的面、另一侧的面以及所述贯穿孔中,将检测的电流的包围;以及
绕回线部,设置在所述主体膜上,与所述绕组部的末端部连接后从所述末端部绕回起始端侧,
所述绕组部具有:设置在所述主体膜的一侧的面上的第二直线部、从所述第二直线部的端部穿过所述贯穿孔延伸的第三直线部、设置在所述第三直线部的端部并且设置在所述主体膜的另一侧的面上的第二直线部第四直线部、以及从所述第四直线部的端部穿过所述贯穿孔延伸的第五直线部,
相对于单个所述第四直线部,设置有多个所述第三直线部或所述第五直线部。
2.根据权利要求1所述的检测用基板,其特征在于:
其中,所述绕回线部设置在所述主体膜的一侧的面或另一侧的面。
3.根据权利要求1或2所述的检测用基板,其特征在于:
其中,所述绕回线部不从所述绕组部中穿过。
4.根据权利要求3所述的检测用基板,其特征在于:
其中,所述绕回线部设置在所述绕组部的边缘内部或边缘外部。
5.根据权利要求1或2所述的检测用基板,其特征在于:
其中,当设置有多个所述第三直线部的情况下,所述第三直线部各自的横截面的面积小于所述第二直线部以及所述第四直线部的横截面的面积,
当设置有多个所述第五直线部的情况下,所述第五直线部各自的横截面的面积小于所述第二直线部以及所述第四直线部的横截面的面积。
6.根据权利要求1或2所述的检测用基板,其特征在于,进一步包括:
检测对象部,设置在主体部中,并且流通有测定对象中流通的电流中的至少一部分电流,
所述绕组部以及所述绕回线部包围所述检测对象部。
7.一种组合体,其特征在于,包括:
权利要求6所述的检测用基板;以及
设置在所述检测用基板上,并且作为所述测定对象的电子装置。
8.一种检测用基板的制造方法,其特征在于,包括:
在主体膜上形成贯穿孔的工序;
在所述主体膜以及所述贯穿孔上形成金属膜的工序;
在所述金属膜中的与绕组部以及绕回线部相对应的部位上形成金属层的工序;以及
将在所述金属膜中的除与所述绕组部以及所述绕回线部相对应的部位以外的部分去除的工序,
其中,由所述主体膜的一侧的面、另一侧的面以及所述贯穿孔中的所述金属层以及所述金属膜来形成所述绕组部,
由所述主体膜的一侧的面或另一侧的面上的所述金属层以及所述金属膜来形成所述绕回线部,
所述绕组部具有:设置在所述主体膜的一侧的面上的第二直线部、从所述第二直线部的端部穿过所述贯穿孔延伸的第三直线部、设置在所述第三直线部的端部并且设置在所述主体膜的另一侧的面上的第二直线部第四直线部、以及从所述第四直线部的端部穿过所述贯穿孔延伸的第五直线部,
相对于单个所述第四直线部,设置有多个所述第三直线部或所述第五直线部。
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