[发明专利]用于对复杂样本进行质量分析的方法、装置和存储介质有效

专利信息
申请号: 201780084101.3 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN110178182B 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: S.J.格罗马诺斯;C.德夫林;S.J.恰瓦里尼 申请(专利权)人: 沃特世科技公司
主分类号: G16B20/00 分类号: G16B20/00;G16B40/00;H01J49/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 高苇娟;申屠伟进
地址: 美国麻*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开描述了用于分析质谱数据的技术和装置。在一个实施方案中,例如,一种装置可以包括以下逻辑:访问经由对包括目标前体的样本进行质量分析生成的产物离子数据集;访问所述目标前体的元素的包括标称质量和质量亏损信息的前体组合物信息;基于所述前体组合物信息而确定与所述目标前体相关联的离子碎片的标称质量(NM)‑质量亏损(MD)关系信息;确定一个或多个碎片上界和一个或多个碎片下界;经由将所述一个或多个碎片上界和所述一个或多个碎片下界应用于所述NM‑MD关系信息而从所述离子碎片提取候选离子碎片;以及基于与所述候选离子碎片相关联的裂解效率信息而从多个候选离子碎片确定目标离子碎片。其他实施方案有所描述并受权利要求书保护。
搜索关键词: 用于 复杂 样本 进行 质量 分析 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
1.一种计算机实现的样本分析方法,所述方法包括:访问经由对包括至少一个目标前体的样本进行质量分析生成的至少一个产物离子数据集;访问所述至少一个目标前体的多种组分元素的前体组合物信息,所述前体组合物信息包括所述多种组分元素的至少一部分的标称质量信息和质量亏损信息;基于所述前体组合物信息而确定与所述至少一个目标前体相关联的多个离子碎片的标称质量(NM)‑质量亏损(MD)关系信息;确定所述多个离子碎片的至少一个离子碎片上界和至少一个离子碎片下界;经由将所述至少一个离子碎片上界和所述至少一个离子碎片下界应用于所述NM‑MD关系信息而从所述多个离子碎片提取多个候选离子碎片;以及基于与所述多个候选离子碎片相关联的裂解效率信息而从所述多个候选离子碎片确定多个目标离子碎片。
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