[发明专利]X射线相位成像装置有效
申请号: | 201780071767.5 | 申请日: | 2017-09-06 |
公开(公告)号: | CN110049725B | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 堀场日明;白井太郎;土岐贵弘;佐野哲 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G01N23/20 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 姚开丽 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种X射线相位成像装置(100),其包括控制部(5),所述控制部(5)针对已通过调整机构部(3)而变化的被摄物(S)与成像光栅部(G1)的多个相对的位置的各个,分别生成暗视场像(Iv),获取各个暗视场像中(Iv)的感兴趣区域(ROI)的对比度,并且以根据已获取的各个对比度,调整被摄物(S)与成像光栅部(G1)的相对的位置的方式控制调整机构部(3)。 | ||
搜索关键词: | 射线 相位 成像 装置 | ||
【主权项】:
1.一种X射线相位成像装置,包括:X射线源,对被摄物照射X射线;成像光栅部,通过从所述X射线源照射至所述被摄物上的所述X射线穿过而生成光栅像;检测部,对穿过了所述成像光栅部的所述X射线进行检测;调整机构部,使所述被摄物与所述成像光栅部的相对的位置变化的同时进行调整;以及控制部,针对已通过所述调整机构部而变化的所述被摄物与所述成像光栅部的多个相对的位置的各个,根据由所述检测部所检测到的所述X射线的信号,分别生成表示所述被摄物存在时与所述被摄物不存在时的X射线的清晰度的变化的暗视场像,获取各个所述暗视场像中的感兴趣区域的对比度,并且以根据已获取的各个所述对比度调整所述被摄物与所述成像光栅部的相对的位置的方式,控制所述调整机构部。
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