[发明专利]用于确定X射线成像系统的轨迹的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201780066404.2 申请日: 2017-10-26
公开(公告)号: CN109890293B 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 大卫·阿曼德;阿诺德·皮埃尔;劳伦斯·范贝克;史蒂芬·拉瓦莱 申请(专利权)人: 苏尔吉维索公司
主分类号: A61B6/02 分类号: A61B6/02;A61B6/03;A61B6/00
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 徐川;姚开丽
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于确定电动的X射线成像系统的轨迹的方法,X射线成像系统用于获取患者的图像,患者被附接有体模(30)以在由X射线成像系统获取的受关注的身体区域的至少一个2D图像上可见,体模包括具有已知空间布置的不透辐射的基准,所述方法包括以下步骤:由X射线成像系统在给定位置获取体模(30)的一个第一2D图像;在所述获取的第一图像中检测体模(30)的基准;基于所述检测到的基准,确定体模在X射线成像系统的参照中的位置;确定X射线成像系统的适于获取受关注的区域的一组2D X射线图像的一组位置,使得所述一组2D X射线图像符合相对于所述一组图像的一部分对体模的位置的至少一个施加的要求;将所述确定的一组位置进行组合以确定X射线成像系统相对于体模(30)的位置的轨迹。
搜索关键词: 用于 确定 射线 成像 系统 轨迹 方法
【主权项】:
1.一种用于确定电动的X射线成像系统的轨迹的方法,所述X射线成像系统用于获取患者的图像,所述患者被附接有体模(30)以在由所述X射线成像系统获取的受关注的身体区域(ROI)的至少一个2D图像上可见,所述体模包括具有已知空间布置的不透辐射的基准(31),所述方法包括以下步骤:‑由所述X射线成像系统在给定位置获取所述体模(30)的一个第一2D图像;‑在所述获取的第一图像中检测所述体模的基准(31);‑基于所述检测到的基准(31),确定在所述X射线成像系统的参照中所述体模(30)的位置;‑确定所述X射线成像系统的适于获取受关注的区域的一组2D X射线图像的一组位置,使得所述一组2D X射线图像符合相对于所述一组图像的一部分对所述体模(30)的位置的至少一个施加的要求;‑将确定的所述一组位置进行组合以确定所述X射线成像系统相对于所述体模(30)的位置的轨迹。
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