[发明专利]用于集成电路板的定位装置和用于包括这种定位装置的集成电路板的检测装置有效
| 申请号： | 201780037424.7 | 申请日： | 2017-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN109313231B | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 西尔万·珀蒂格朗德 | 申请（专利权）人： | 统一半导体公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01L21/68 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 谢攀;刘继富 |
| 地址： | 法国蒙特邦*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于定位集成电路晶片(W)的定位装置(100)，包括：‑称为上基座的基座(102)和称为下基座的基座(106)，所述基座在称为垂直方向的方向(Z)上彼此相距一定距离布置，以便在所述基座(102，106)之间产生自由空间；‑支撑件(110)，其能够在上基座(102)和下基座(106)之间移动，并包括用于接收待检测的所述电路板(W)的接收位置(112)；‑用于定位所述支撑件(110)的至少一个第一装置(118)，其在垂直方向(Z)上抵靠所述上基座(102)或与所述上基座(102)配合；和‑用于定位所述支撑件(110)的至少一个第二装置(122)，其在垂直方向(Z)上抵靠所述下基座(106)或与所述下基座(106)配合。本发明还涉及一种用于检测使用这种定位装置的集成电路板的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成 电路板 定位 装置 包括 这种 检测 | ||
【主权项】：
1.一种用于定位集成电路晶片(W)的装置(100、500)，包括：‑称为上基座的基座(102)和称为下基座的基座(106)，所述基座(102、106)在称为垂直方向的方向(Z)上彼此相距一定距离布置，以便在所述基座(102、106)之间产生自由空间；‑支撑件(110、300)，其设置成能够在所述上基座(102)和下基座(106)之间移动，并包括用于接收待检测的所述晶片(W)的位置(112)；‑所述支撑件(110、300)的至少一个第一定位装置(118)，其在所述垂直方向(Z)上抵靠所述上基座(102)或与所述上基座(102)配合；和‑所述支撑件(110、300)的至少一个第二定位装置(122)，其在所述垂直方向(Z)上抵靠所述下基座(106)或与所述下基座(106)配合。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于统一半导体公司，未经统一半导体公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780037424.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：测试半导体芯片的连接器销装置及其制造方法
- 下一篇：负载异常检测装置
