[发明专利]检测光学膜的缺陷的系统和方法有效
| 申请号： | 201780032244.X | 申请日： | 2017-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN109196335B | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 金浩振;杨命坤;朴昶奭;金栽贤;崔恒硕 | 申请（专利权）人： | 杉金光电（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G02B1/10 | 分类号： | G02B1/10;G01N21/896;G01N21/53;G01N21/958 |
| 代理公司： | 南京华鑫君辉专利代理有限公司 32544 | 代理人： | 徐明慧 |
| 地址： | 215699 江苏省苏州市张家*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本公开内容涉及检测光学膜的缺陷的系统和方法，更具体地，涉及检测光学膜的缺陷的系统和方法，其获得被投射至屏幕上的光学膜的缺陷的图像并检测光学膜的缺陷。作为本公开内容的一个示例性实施方案，可以提供用于检测光学膜的缺陷的系统。所述用于检测光学膜的缺陷的系统可以包括：照明单元，所述照明单元与所述光学膜间隔开，并且向所述光学膜的一个表面照射光；屏幕，所述屏幕与所述光学膜的另一表面间隔开，并且所述光学膜中存在的缺陷随着从所述照明单元照射的光穿过所述光学膜而被投射并显示在所述屏幕上；成像单元，所述成像单元与所述屏幕间隔开，并且获得被投射至所述屏幕上的所述光学膜的缺陷的图像；以及分析单元，所述分析单元分析获得的图像并基于分析的结果检测所述光学膜的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 光学 缺陷 系统 方法 | ||
【主权项】：
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