[发明专利]检测光学膜的缺陷的系统和方法

说明书

本公开内容涉及检测光学膜的缺陷的系统和方法，更具体地，涉及检测光学膜的缺陷的系统和方法，其获得被投射至屏幕上的光学膜的缺陷的图像并检测光学膜的缺陷。作为本公开内容的一个示例性实施方案，可以提供用于检测光学膜的缺陷的系统。所述用于检测光学膜的缺陷的系统可以包括：照明单元，所述照明单元与所述光学膜间隔开，并且向所述光学膜的一个表面照射光；屏幕，所述屏幕与所述光学膜的另一表面间隔开，并且所述光学膜中存在的缺陷随着从所述照明单元照射的光穿过所述光学膜而被投射并显示在所述屏幕上；成像单元，所述成像单元与所述屏幕间隔开，并且获得被投射至所述屏幕上的所述光学膜的缺陷的图像；以及分析单元，所述分析单元分析获得的图像并基于分析的结果检测所述光学膜的缺陷。

技术领域

本申请要求于2016年5月24日提交的韩国专利申请第10-2016-0063703号的权益，其全部内容通过引用并入本文。

本公开内容的一个或更多个示例性实施方案涉及检测光学膜的缺陷的系统和方法，更具体地，涉及检测光学膜的缺陷的系统和方法，其获得被投射至屏幕上的光学膜的缺陷的图像并检测光学膜的缺陷。

背景技术

光学膜提供形成图像所需的透射光，并且是主要光学组件，其主要用于液晶显示器(LCD)面板等，并且对显示器面板的品质产生很大影响。

光学膜可以通过将保护膜附接至偏光器件的两个表面上并向偏光器件的至少一个外表面上施加粘合剂(例如PSA)来形成。然而，在制造光学膜的过程期间，可能产生以下现象：当向膜中引入外来物质或将膜卷绕在辊上时，膜被挤压的现象；由于施加至膜上的结合剂或粘合剂的厚度变化，膜被挤压的现象；以及由于其他外力，膜被挤压或膜被压印的现象。

因所述现象而产生的光学膜的缺陷可能在使用该光学膜的显示器面板中引起亮斑缺陷，因此在制造光学膜之后检查膜的缺陷是必不可少的过程。

韩国专利第10-1082699号(下文中，专利文献1)提出了一种用于通过拍摄光学膜的图像来检查光学膜的缺陷的装置。该专利公开了以下内容：通过使从光源照射的光穿过光学膜并通过安装在面向光源的位置处的拍摄装置以图像形式拍摄光学膜来检查光学膜。然而，该专利的限制在于，仅检测到光学膜中存在的缺陷中的因外来物质引起的缺陷。

发明内容

技术问题

本公开内容的一个或更多个示例性实施方案要解决的技术目标是提供检测光学膜的缺陷的系统和方法，其使照射至光学膜上的光被投射至屏幕上，从而检测在制造光学膜的过程期间产生的光学膜的各种形式的缺陷例如挤压、压印和折叠，并提高检测光学膜的缺陷的速率。

技术方案

本公开内容的一个示例性实施方案提供了用于检测光学膜的缺陷的系统。用于检测光学膜的缺陷的系统可以包括：照明单元，所述照明单元与所述光学膜间隔开，并且向所述光学膜的一个表面(例如，前表面或后表面)照射光；屏幕，所述屏幕与所述光学膜的另一表面(例如，后表面或前表面)间隔开，并且所述光学膜中存在的缺陷随着从所述照明单元照射的光穿过所述光学膜而被投射并显示在所述屏幕上；成像单元，所述成像单元与所述屏幕间隔开，并获得被投射至所述屏幕上的光学膜的缺陷的图像；以及分析单元，所述分析单元分析获得的图像并基于分析的结果检测所述光学膜的缺陷。

屏幕与光学膜之间的距离d₁的值可以在90mm至130mm的范围内，以及照明单元与光学膜之间的距离d₂的值可以在280mm至340mm的范围内。

成像单元与屏幕可以被布置成具有第一角度θ₁，照明单元与光学膜可以被布置成具有第二角度θ₂，以及第一角度和第二角度可以具有相同的值。

待照射光的光学膜与屏幕可以被布置成彼此平行。

第一角度θ₁和第二角度θ₂的值可以在25°至48°的范围内。