[发明专利]检测光学膜的缺陷的系统和方法

权利要求书

1.一种用于检测光学膜的缺陷的系统，所述系统包括：

照明单元，所述照明单元与所述光学膜间隔开，并且向所述光学膜的一个表面照射光；

屏幕，所述屏幕与所述光学膜的另一表面间隔开，并且所述光学膜中存在的缺陷随着从所述照明单元照射的光穿过所述光学膜而被投射并显示在所述屏幕上；

成像单元，所述成像单元与所述屏幕间隔开，并且获得被投射至所述屏幕上的所述光学膜的缺陷的图像；以及

分析单元，所述分析单元分析获得的图像，并基于所述分析的结果检测所述光学膜的缺陷；

其中所述屏幕与所述光学膜之间的距离(d₁)的值在90mm至130mm的范围内；

其中所述照明单元与所述光学膜之间的距离(d₂)的值在280mm至340mm的范围内；

其中所述成像单元与所述屏幕被布置成具有第一角度(θ₁)，

所述照明单元与所述光学膜被布置成具有第二角度(θ₂)，

所述第一角度和所述第二角度具有相同的值，

其中所述第一角度(θ₁)和所述第二角度(θ₂)的值在25°至48°的范围内，

其中待照射光的所述光学膜与所述屏幕被布置成彼此平行；以及

其中所述分析单元还测量呈现为黑点或白点的部分的尺寸，并检测缺陷。

2.根据权利要求1所述的系统，还包括：

传送辊，所述传送辊用于传送所述光学膜，

其中所述传送辊以其中行进方向为一个方向的直列形式传送所述光学膜。

3.根据权利要求1所述的系统，还包括：

暗室，所述暗室防止从所述照明单元照射的光泄露至所述用于检测光学膜的缺陷的系统的外部。

4.根据权利要求1所述的系统，其中所述成像单元与所述光学膜的所述另一表面间隔开，以在不穿过所述光学膜的情况下直接获得被投射并聚焦在所述屏幕上的图像。

5.根据权利要求1所述的系统，其中所述照明单元在所述光学膜的整个宽度方向上照射光。

6.一种通过使用投射图像来检测光学膜的缺陷的方法，所述方法包括：

通过照明单元向所述光学膜的一个表面照射光，所述照明单元与所述光学膜间隔开；

通过成像单元获得所述光学膜的缺陷的图像，所述光学膜的缺陷随着从所述照明单元照射的光穿过所述光学膜而被投射至屏幕上；

分析获得的图像；以及

基于分析结果来检测所述光学膜的缺陷，

其中所述屏幕与所述光学膜的另一表面间隔开，以及所述成像单元与所述屏幕和所述光学膜的所述另一表面间隔开，以在不穿过所述光学膜的情况下直接获得被投射并聚焦在所述屏幕上的图像；

其中所述屏幕与所述光学膜之间的距离(d₁)的值在90mm至130mm的范围内；

其中所述照明单元与所述光学膜之间的距离(d₂)的值在280mm至340mm的范围内；

其中所述成像单元与所述屏幕被布置成具有第一角度(θ₁)，

所述照明单元与所述光学膜被布置成具有第二角度(θ₂)，

所述第一角度和所述第二角度具有相同的值，

其中所述第一角度(θ₁)和所述第二角度(θ₂)的值在25°至48°的范围内，

其中待照射光的所述光学膜与所述屏幕被布置成彼此平行，以及

其中所述分析还包括：测量呈现为黑点或白点的部分的尺寸，并检测缺陷。

7.一种非暂时性计算机可读记录介质，其上记录有用于执行根据权利要求6所述的方法的程序。