[发明专利]谷类的精磨度评价方法及其装置有效
| 申请号： | 201780018893.4 | 申请日： | 2017-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN108885169B | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 内田和也 | 申请（专利权）人： | 株式会社佐竹 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;B02B7/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 舒艳君;李洋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供能够抑制糠部分与胚乳部分之间的误识别，而且没有个人差异的谷类的精磨度评价方法及其装置。谷类的精磨度评价方法具备：染色步骤，使用染色液对谷粒进行染色；照射步骤，对谷粒照射光；图像获取步骤，获取被照射光的谷粒的图像；以及精磨度判别步骤，针对构成由图像获取步骤获取到的谷粒一粒的图像的多个像素的每个，基于预先决定的基准来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应，并在与糠部分对应的像素存在规定数以上或者规定比例以上时，判别为与由多个像素构成的图像对应的谷粒是有残留糠的精磨不良粒。 | ||
| 搜索关键词： | 谷类 精磨度 评价 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种谷类的精磨度评价方法，具备：染色步骤，使用染色液对谷粒进行染色；照射步骤，对所述谷粒照射光；图像获取步骤，获取被照射所述光的谷粒的图像；以及精磨度判别步骤，针对构成由所述图像获取步骤获取到的谷粒一粒的图像的多个像素的每个，基于预先决定的基准来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应，并在与糠部分对应的像素存在规定数以上或者规定比例以上时，判别为与由所述多个像素构成的所述图像对应的谷粒是有残留糠的精磨不良粒。
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