[发明专利]谷类的精磨度评价方法及其装置

权利要求书

1.一种谷类的精磨度评价方法，具备：

染色步骤，使用染色液对谷粒进行染色；

照射步骤，对所述谷粒照射光；

图像获取步骤，获取被照射所述光的谷粒的图像；以及

精磨度判别步骤，针对构成由所述图像获取步骤获取到的谷粒一粒的图像的多个像素的每个，基于预先决定的基准来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应，并在与糠部分对应的像素存在规定数以上或者规定比例以上时，判别为与由所述多个像素构成的所述图像对应的谷粒是有残留糠的精磨不良粒，

所述图像获取步骤具备针对构成所述谷粒的图像的多个像素的每个获取R波长成分、G波长成分、B波长成分的步骤，

将所述R波长成分、所述G波长成分以及所述B波长成分包括在内而设定所述基准，

所述谷类的精磨度评价方法具备：RGB表色系统数据获取步骤，针对对于精磨度已知的谷粒的样本利用与所述染色步骤、所述照射步骤以及所述图像获取步骤相同的方法获取到的图像，按照每个像素获取包括R波长成分、G波长成分和B波长成分的RGB表色系统数据；

三维颜色空间创建步骤，在将R、G、B的各表色轴设为正交坐标的三维颜色空间上标绘在所述RGB表色系统数据获取步骤中获取到的所述RGB表色系统数据；以及

基准设定步骤，将在所述三维颜色空间中由线性判别函数Z定义的面设定为所述基准，

所述线性判别函数Z由下式表示，

Z＝a×(R波长的值)+b×(G波长的值)+c×(B波长的值)+A，

其中，a、b、c为系数，A为常量，a、b、c、A从已知的样本中求出，

在所述精磨度判别步骤中，针对构成由所述图像获取步骤获取到的谷粒一粒的图像的所述多个像素的每个，根据通过所述线性判别函数Z计算的值的正负来区分是与所述糠部分对应还是与所述胚乳部分对应，

通过计算针对所述糠部分的像素数来求出残留糠面积，

通过进行所述残留糠面积相对于谷粒的整体面积的比例是规定值以上还是小于规定值的判别，来评价谷粒是正常粒还是异常粒。

2.根据权利要求1所述的谷类的精磨度评价方法，其中，

在所述精磨度判别步骤的后期阶段还具备按照多等级对精磨不良粒进行分级的等级评价步骤。

3.一种谷类的精磨度评价装置，具备：

拍摄装置，获取使用染色液进行了染色的谷粒的表面的图像；以及

运算装置，根据由所述拍摄装置获取到的谷粒的图像来运算该谷粒的精磨度，

所述运算装置具备精磨度判别部，所述精磨度判别部针对构成由所述拍摄装置获取到的谷粒一粒的图像的多个像素的每个，基于预先决定的基准来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应，

所述精磨度判别部在针对所述糠部分的像素存在规定数以上或者规定比例以上时，判别为与由多个像素构成的所述图像对应的谷粒是有残留糠的精磨不良粒,

所述拍摄装置针对构成所述谷粒的图像的多个像素的每个，获取R波长成分、G波长成分、B波长成分，

将所述R波长成分、所述G波长成分以及所述B波长成分包括在内而设定所述基准，

所述运算装置具备：

RGB表色系统数据获取部，针对构成由所述拍摄装置获取到的一粒谷粒的图像的多个像素的每个，获取包括R波长成分、G波长成分和B波长成分的RGB表色系统数据；

三维颜色空间创建部，在将R、G、B的各表色轴设为正交坐标的三维颜色空间上标绘由所述RGB表色系统数据获取部获取到的RGB表色系统数据；

基准设定部，将在所述三维颜色空间中由线性判别函数Z定义的面设定为所述基准，

所述线性判别函数Z由下式表示，

Z＝a×(R波长的值)+b×(G波长的值)+c×(B波长的值)+A，

其中，a、b、c为系数，A为常量，a、b、c、A从已知的样本中求出，

所述精磨度判别部针对构成由所述拍摄装置获取到的谷粒一粒的图像的所述多个像素的每个，根据通过所述线性判别函数Z计算的值的正负来区分是与所述糠部分对应还是与所述胚乳部分对应，

通过计算针对所述糠部分的像素数来求出残留糠面积，

通过进行所述残留糠面积相对于谷粒的整体面积的比例是规定值以上还是小于规定值的判别，来评价谷粒是正常粒还是异常粒。

4.根据权利要求3所述的谷类的精磨度评价装置，其中，

所述运算装置还具备按照多等级对精磨不良粒进行分级的等级评价部。