[发明专利]用于可拉伸电子组件的机械测试的横向扩展设备有效

专利信息
申请号: 201780012089.5 申请日: 2017-01-13
公开(公告)号: CN108700493B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: V.K.苏布拉马尼安;S.A.克莱因;R.C.迪亚斯;P.玛拉特卡尔;A.阿莱克索夫;R.V.马哈詹;R.L.桑克曼 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G01M15/08 分类号: G01M15/08
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 徐予红;张金金
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施例通常针对用于可拉伸电子组件的机械测试的横向扩展设备。系统的实施例包括:用来通过可压缩圆柱体的压缩和释放将机械力施加于可拉伸电子组件装置的可压缩圆柱体;用来压缩至可压缩圆柱体的压缩单元,其中压缩单元要在沿着可压缩圆柱体的轴线的方向上施加压缩力以生成可压缩圆柱体的横向扩展;以及用来控制可压缩圆柱体的压缩和释放的测试逻辑。
搜索关键词: 用于 拉伸 电子 组件 机械 测试 横向 扩展 设备
【主权项】:
1.一种机械测试系统,所述机械测试系统包括:可压缩圆柱体,所述可压缩圆柱体用来通过所述可压缩圆柱体的压缩和释放而将机械力施加于可拉伸电子组件装置;压缩单元,所述压缩单元用来压缩至所述可压缩圆柱体,其中所述压缩单元要在沿着所述可压缩圆柱体的轴线的方向上施加压缩力以生成所述可压缩圆柱体的横向扩展;以及测试逻辑,所述测试逻辑用来控制所述可压缩圆柱体的压缩和释放。
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