[发明专利]用于可拉伸电子组件的机械测试的横向扩展设备

说明书

实施例通常针对用于可拉伸电子组件的机械测试的横向扩展设备。系统的实施例包括：用来通过可压缩圆柱体的压缩和释放将机械力施加于可拉伸电子组件装置的可压缩圆柱体；用来压缩至可压缩圆柱体的压缩单元，其中压缩单元要在沿着可压缩圆柱体的轴线的方向上施加压缩力以生成可压缩圆柱体的横向扩展；以及用来控制可压缩圆柱体的压缩和释放的测试逻辑。

技术领域

本文中描述的实施例通常涉及电子装置的领域，并且更具体地，涉及用于可拉伸电子组件的机械测试的横向扩展设备。

背景技术

其中将电子电路沉积在可拉伸衬底上或者将电子电路嵌入可拉伸材料中的可拉伸电子组件具有将要在包括可穿戴装置和其他实现的许多新的类型的装置中被利用的潜力。

可拉伸电子组件的拉伸将不可避免地在某种程度上加压力于电子元件并且可随时间引起故障。随着可拉伸电子组件的新用途正在被开发，在适当条件下提供可拉伸电子组件的可重复测试正在变得越来越重要，以便于充分了解可拉伸电子装置的机械性能和可靠性风险。

然而，通常并未使可拉伸电子组件的测试标准化，并且因此难以正确评估包含可拉伸电子组件的材料和装置。

附图说明

在附图的图中，通过示例而不是通过限制来说明这里描述的实施例，其中相同的附图标记指相似的元件。

图1是根据实施例的利用横向扩展操作的可拉伸电子组件测试系统的图示；

图2A是根据实施例的包括不具有施加的压缩力的可压缩圆柱体的可拉伸电子组件测试系统的图示；

图2B是根据实施例的包括具有施加的压缩力的可压缩圆柱体的可拉伸电子组件测试系统的图示；

图3是根据实施例的与可拉伸电子组件的机械测试一起提供的电气测试的图示；

图4是根据实施例的在利用横向扩展的机械测试中施加于可拉伸电子组件的机械力的测量的图示；

图5是根据实施例的用于可拉伸电子组件的机械测试的测试设置的图示；以及

图6是用来说明根据实施例的可拉伸电子组件的基于横向扩展的机械测试的流程图。

具体实施方式

在本文中描述的实施例通常针对用于可拉伸电子组件的机械测试的横向扩展设备。

出于本描述的目的：

“可拉伸电子组件”或“弹性电子组件”指被沉积在可拉伸衬底上或者被嵌入可拉伸材料中的电子电路，其中可拉伸衬底和可拉伸材料可以包括但不限于硅、聚氨酯和聚合物。电子电路可以包括可拉伸电子装置。可拉伸电子组件可以包括但不限于嵌入可穿戴装置中的电路。

“可穿戴装置”、“可穿戴电子装置”或“可穿戴”通常指结合了电子装置的衣服和装饰品。可穿戴装置可以包括可拉伸电子组件。

在某些实施例中，设备、系统或方法为可拉伸电子组件的机械测试做好准备，其中将机械力施加于在测试中的装置以评估一个或多个故障条件是否发生。在某些实施例中，设备、系统或方法为利用横向扩展设备的用于可拉伸电子组件的机械测试标准做好准备。在某些实施例中，横向扩展测试设备包括可压缩圆柱体，用来通过引起圆柱体的横向扩展的可压缩圆柱体的压缩而在一个或多个可拉伸电子组件装置上施加机械力。

可压缩圆柱体由可以包括但不限于橡胶材料的可压缩材料构成。

在某些实施例中，一个或多个可拉伸电子组件装置被附着于可压缩圆柱体。在某些实施例中，通过在第一方向上的力的施加来压缩圆柱体，其中力的施加可以包括负载框架或其他方法的使用。在圆柱体的压缩期间，圆柱体将在第二方向上扩展，引起附着的样本的变形。这个过程实现了可重复的且周期性的样本的横向扩展或拉伸。在某些实施例中，故障监测（诸如在测试中的装置的电气测试）为装置故障检测和预测的可穿戴装置的机械性能做好准备。