[发明专利]用于可拉伸电子组件的机械测试的横向扩展设备有效
| 申请号: | 201780012089.5 | 申请日: | 2017-01-13 |
| 公开(公告)号: | CN108700493B | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
| 发明(设计)人: | V.K.苏布拉马尼安;S.A.克莱因;R.C.迪亚斯;P.玛拉特卡尔;A.阿莱克索夫;R.V.马哈詹;R.L.桑克曼 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
| 主分类号: | G01M15/08 | 分类号: | G01M15/08 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 徐予红;张金金 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 拉伸 电子 组件 机械 测试 横向 扩展 设备 | ||
1.一种机械测试系统,所述机械测试系统包括:
可压缩圆柱体,所述可压缩圆柱体用来通过所述可压缩圆柱体的压缩和释放而将机械力施加于可拉伸电子组件装置;
压缩单元,所述压缩单元用来压缩至所述可压缩圆柱体,其中所述压缩单元要在沿着所述可压缩圆柱体的轴线的方向上施加压缩力以生成所述可压缩圆柱体的横向扩展;
测量单元,所述测量单元用来测量所述可拉伸电子组件装置上的机械力;以及
测试逻辑,所述测试逻辑用来控制所述可压缩圆柱体的压缩和释放。
2.如权利要求1所述的系统,进一步包括用来监测所述可拉伸电子组件装置中的故障条件的监测单元。
3.如权利要求2所述的系统,其中所述监测单元要检测所述可拉伸电子组件装置的电气值。
4.如权利要求3所述的系统,其中所述电气值是电阻值。
5.如权利要求1所述的系统,其中所述测量单元要通过所述可压缩圆柱体的所述横向扩展来测量所述可压缩圆柱体的尺寸的变化。
6.如权利要求5所述的系统,其中所述测量单元包括用来检测与所述可压缩圆柱体有关的一个或多个距离的一个或多个光电探测器。
7.如权利要求1所述的系统,其中所述测试逻辑包括具有控制软件的计算机。
8.如权利要求1所述的系统,进一步包括用来为所述可拉伸电子组件提供环境条件的控制的室。
9.如权利要求1所述的系统,其中所述压缩单元包括用来提供所述压缩力的负载框架。
10.如权利要求1所述的系统,其中所述可压缩圆柱体由橡胶构成。
11.一种方法,所述方法包括:
接收用于可拉伸电子组件装置的机械测试的测试参数,所述可拉伸电子组件装置与可压缩圆柱体耦合,所述测试参数包括要施加于所述可拉伸电子组件装置的机械力的指定水平;
测量所述可拉伸电子组件装置上的机械力;
至少部分基于所述测试参数来针对所述可压缩圆柱体执行一个或多个压缩和释放周期,包括将所述可压缩圆柱体压缩至所述机械力的指定水平;以及
监测所述可拉伸电子组件装置的一个或多个故障条件。
12.如权利要求11所述的方法,其中所述机械力包括应力、应变或位移中的一个或多个。
13.如权利要求11所述的方法,其中所述测试参数进一步包括用于所述可拉伸电子组件装置的测试的压缩和释放周期的指定数量。
14.如权利要求11所述的方法,其中监测一个或多个故障条件包括监测所述可拉伸电子组件装置的一个或多个电气值。
15.如权利要求14所述的方法,其中所述可拉伸电子组件装置的所述一个或多个电气值包括所述可拉伸电子组件装置的电阻。
16.如权利要求11所述的方法,进一步包括应用一个或多个环境条件以用于所述可拉伸电子组件的所述机械测试。
17.如权利要求16所述的方法,其中所述一个或多个环境条件包括温度、湿度和盐度中的一个或多个。
18.如权利要求11所述的方法,其中所述一个或多个故障条件包括下列中的一个或多个:
所述可拉伸电子组件装置的迹线裂纹;
所述可拉伸电子组件装置的分层;或
所述可拉伸电子组件装置的块体断裂。
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