[实用新型]一种用于晶片检测的电气检测设备

摘要

本实用新型公开了一种用于晶片检测的电气检测设备，包括底座，底座上端中部安装有支撑齿条，支撑齿条中部设有升降箱，升降箱内部安装有升降齿轮，升降齿轮中部同轴位置安装有旋转蜗轮，旋转蜗轮下端啮合有蜗杆，蜗杆左端安装有驱动轴，升降箱右端安装有升降套，升降套中部安装有滑块，滑块中部连接有丝杆，滑块下端安装有探针检测器，底座上端中部安装有固定槽，固定槽内部安装有滚球，固定槽上端安装有定位台，定位台下端两侧设有固定装置，固定装置包括固定筒，固定筒内部底端安装有伸缩弹簧。本实用新型，实现着对探针检测器的上下左右移动，进而保证着检测探针与晶片的准确接触，避免着手持检测探针进行检测，满足着晶片检测的需要。

主权项

1.一种用于晶片检测的电气检测设备，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）上端中部安装有支撑齿条（2），支撑齿条（2）中部设有升降箱（3），升降箱（3）内部安装有升降齿轮（31），升降齿轮（31）中部同轴位置安装有旋转蜗轮（32），旋转蜗轮（32）下端啮合有蜗杆（35），蜗杆（35）左端安装有驱动轴（34），所述升降箱（3）右端安装有升降套（6），升降套（6）中部安装有滑块（5），滑块（5）中部连接有丝杆（4），所述滑块（5）下端安装有探针检测器（9），所述底座（1）上端中部安装有固定槽（15），固定槽（15）内部安装有滚球（16），所述固定槽（15）上端安装有定位台（12），所述定位台（12）下端两侧设有固定装置（13），所述固定装置（13）包括固定筒（131），固定筒（131）内部底端安装有伸缩弹簧（132），伸缩弹簧（132）上端安装有伸缩柱（134）。