[实用新型]一种用于晶片检测的电气检测设备

说明书

本实用新型公开了一种用于晶片检测的电气检测设备，包括底座，底座上端中部安装有支撑齿条，支撑齿条中部设有升降箱，升降箱内部安装有升降齿轮，升降齿轮中部同轴位置安装有旋转蜗轮，旋转蜗轮下端啮合有蜗杆，蜗杆左端安装有驱动轴，升降箱右端安装有升降套，升降套中部安装有滑块，滑块中部连接有丝杆，滑块下端安装有探针检测器，底座上端中部安装有固定槽，固定槽内部安装有滚球，固定槽上端安装有定位台，定位台下端两侧设有固定装置，固定装置包括固定筒，固定筒内部底端安装有伸缩弹簧。本实用新型，实现着对探针检测器的上下左右移动，进而保证着检测探针与晶片的准确接触，避免着手持检测探针进行检测，满足着晶片检测的需要。

技术领域

本实用新型涉及晶片检测技术领域，具体是一种用于晶片检测的电气检测设备。

背景技术

经常使用的这种电气检测设备被用来和被测件进行电接触，以测试它的功能。这种电气检测设备与被测件之间为电连接，也就是说，它一方面与被测件的电气端子接触，另一方面又将电接触用来连接一个检测系统，这个系统通过检测设备向被测件发送电信号，测量它的电阻、电流和电压等以检测它的功能。由于电气上的被测件常常是极其细小的、用来制作电子部件的电子元件如晶片，因此，触头的销状接触元件的尺寸也极小。为了能与检测系统连接，探头的接触元件与一个连接装置相接触，这个装置通过转换使接触间隙变大，从而可以与通向检测系统的连接电缆相连接。

然而目前的电气检测设备在检验晶片时，通常是手动拿着测试夹与晶片上的触点进行一对一接触，不仅操作较为困难，容易产生晃动，且无法将测试探针准确的与晶片上的触点进行接触，严重影响着测试效果。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种用于晶片检测的电气检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种用于晶片检测的电气检测设备，包括底座，所述底座上端中部安装有支撑齿条，支撑齿条中部设有升降箱，升降箱内部安装有升降齿轮，升降齿轮中部同轴位置安装有旋转蜗轮，旋转蜗轮下端啮合有蜗杆，蜗杆左端安装有驱动轴，所述升降箱右端安装有升降套，升降套中部安装有滑块，滑块中部连接有丝杆，所述滑块下端安装有探针检测器，所述底座上端中部安装有固定槽，固定槽内部安装有滚球，所述固定槽上端安装有定位台，所述定位台下端两侧设有固定装置，所述固定装置包括固定筒，固定筒内部底端安装有伸缩弹簧，伸缩弹簧上端安装有伸缩柱。

作为本实用新型进一步的方案：所述底座下端两侧安装有支撑腿，底座上端两侧安装有固定筒。

作为本实用新型进一步的方案：所述定位台上端外侧均匀设有定位槽，定位台下端外侧均匀设有与伸缩柱相互配合的限位槽。

作为本实用新型进一步的方案：所述伸缩柱中部安装有压杆。

作为本实用新型进一步的方案：所述探针检测器前端中部安装有指示灯，探针检测器下端安装有检测探针。

作为本实用新型再进一步的方案：所述丝杆右端安装有第一手柄，驱动轴左端安装有第二手柄。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

所述一种用于晶片检测的电气检测设备，结构合理，设计新颖，通过设有的升降箱和升降套实现着对探针检测器的上下左右移动，进而保证着检测探针与晶片的准确接触，避免着手持检测探针进行检测，操作简单，满足着晶片检测的需要，实用性强。

附图说明

图1为一种用于晶片检测的电气检测设备的结构示意图。

图2为一种用于晶片检测的电气检测设备中升降箱的结构示意图。

图3为一种用于晶片检测的电气检测设备中固定装置的结构示意图。

具体实施方式