[实用新型]一种用于晶片检测的电气检测设备

权利要求书

1.一种用于晶片检测的电气检测设备，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）上端中部安装有支撑齿条（2），支撑齿条（2）中部设有升降箱（3），升降箱（3）内部安装有升降齿轮（31），升降齿轮（31）中部同轴位置安装有旋转蜗轮（32），旋转蜗轮（32）下端啮合有蜗杆（35），蜗杆（35）左端安装有驱动轴（34），所述升降箱（3）右端安装有升降套（6），升降套（6）中部安装有滑块（5），滑块（5）中部连接有丝杆（4），所述滑块（5）下端安装有探针检测器（9），所述底座（1）上端中部安装有固定槽（15），固定槽（15）内部安装有滚球（16），所述固定槽（15）上端安装有定位台（12），所述定位台（12）下端两侧设有固定装置（13），所述固定装置（13）包括固定筒（131），固定筒（131）内部底端安装有伸缩弹簧（132），伸缩弹簧（132）上端安装有伸缩柱（134）。

2.根据权利要求1所述的一种用于晶片检测的电气检测设备，其特征在于，所述底座（1）下端两侧安装有支撑腿（14），底座（1）上端两侧安装有固定筒（131）。

3.根据权利要求1所述的一种用于晶片检测的电气检测设备，其特征在于，所述定位台（12）上端外侧均匀设有定位槽（11），定位台（12）下端外侧均匀设有与伸缩柱（134）相互配合的限位槽。

4.根据权利要求1所述的一种用于晶片检测的电气检测设备，其特征在于，所述伸缩柱（134）中部安装有压杆（133）。

5.根据权利要求1所述的一种用于晶片检测的电气检测设备，其特征在于，所述探针检测器（9）前端中部安装有指示灯（8），探针检测器（9）下端安装有检测探针（10）。

6.根据权利要求1所述的一种用于晶片检测的电气检测设备，其特征在于，所述丝杆（4）右端安装有第一手柄（7），驱动轴（34）左端安装有第二手柄（33）。