[实用新型]一种半导体芯片测试手动探针台

摘要

本实用新型公开了一种半导体芯片测试手动探针台，包括观察台、目孔、针头固定板和横板，所述观察台的下方设置有操作台，所述操作台的下方中间位置处设置有放物台，所述放物台的下方设置有底座，所述目孔安装在观察台的上方，所述目孔的下方设置有目镜支撑台，所述目镜支撑台的下方中间位置处设置有真空室；通过调节滑动槽，滑动槽推动卡扣，把探针牢牢固定，在探针的两侧设置有两个挡针架，检测完成后，探针靠在挡针架上，避免测试时，因探针固定不稳定，出现测试失误的问题，放物台上设置有X轴调控旋钮和X轴滑动板，把测试的物品放置到X轴滑动板上，通过调节X轴调控旋钮使得物品移动方便，给使用者带来便利。

主权项

一种半导体芯片测试手动探针台，包括观察台(1)、目孔(5)、针头固定板(17)和横板(23)，其特征在于：所述观察台(1)的下方设置有操作台(2)，所述操作台(2)的下方中间位置处设置有放物台(4)，所述放物台(4)的下方设置有底座(3)，所述目孔(5)安装在观察台(1)的上方，所述目孔(5)的下方设置有目镜支撑台(6)，所述目镜支撑台(6)的下方中间位置处设置有真空室(7)，所述真空室(7)的右侧设置有旋钮(8)，所述真空室(7)的下方中间位置处设置有观测口(9)，所述真空室(7)的左侧设置有抵扣(11)，所述抵扣(11)的左侧下方设置有连接架(10)，所述针头固定板(17)安装在操作台(2)的上方，所述针头固定板(17)的右侧设置有探针(12)，所述探针(12)的右侧下方靠近针头固定板(17)的上表面设置有卡扣(16)，所述卡扣(16)的右侧上方设置有挡针架(13)，所述挡针架(13)的右侧下方设置有挡板(14)，所述挡板(14)的右侧设置有滑动槽(15)，所述横板(23)安装在放物台(4)的上方，所述横板(23)的右侧上方设置有固定螺母(22)，所述固定螺母(22)的右侧设置有连接杆(21)，所述固定螺母(22)的左侧上方设置有支撑柱(20)，所述支撑柱(20)的上方中间位置处设置有放物板(19)，所述支撑柱(20)的左侧设置有X轴滑动板(24)，所述X轴滑动板(24)的左侧设置有X轴调控旋钮(18)。