[实用新型]一种半导体芯片测试手动探针台有效
申请号: | 201721026941.8 | 申请日: | 2017-08-16 |
公开(公告)号: | CN207096285U | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 杨更华 | 申请(专利权)人: | 天津朴海永科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300000 天津市滨海新区华苑产业区工华道壹号D座2门110*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 芯片 测试 手动 探针 | ||
技术领域
本实用新型属于探针台技术领域,具体涉及一种半导体芯片测试手动探针台。
背景技术
探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
我国现有的半导体芯片测试手动探针台,观察台长时间工作后容易晃动,操作探针时,因探针固定不稳定,容易出现测试失误,放物台上物品移动不方便,给使用者带来不便。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体芯片测试手动探针台,以解决上述背景技术中提出的现有的半导体芯片测试手动探针台,观察台长时间工作后容易晃动,操作探针时,因探针固定不稳定,容易出现测试失误,放物台上物品移动不方便,给使用者带来不便的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种半导体芯片测试手动探针台,包括观察台、目孔、针头固定板和横板,所述观察台的下方设置有操作台,所述操作台的下方中间位置处设置有放物台,所述放物台的下方设置有底座,所述目孔安装在观察台的上方,所述目孔的下方设置有目镜支撑台,所述目镜支撑台的下方中间位置处设置有真空室,所述真空室的右侧设置有旋钮,所述真空室的下方中间位置处设置有观测口,所述真空室的左侧设置有抵扣,所述抵扣的左侧下方设置有连接架,所述针头固定板安装在操作台的上方,所述针头固定板的右侧设置有探针,所述探针的右侧下方靠近针头固定板的上表面设置有卡扣,所述卡扣的右侧上方设置有挡针架,所述挡针架的右侧下方设置有挡板,所述挡板的右侧设置有滑动槽,所述横板安装在放物台的上方,所述横板的右侧上方设置有固定螺母,所述固定螺母的右侧设置有连接杆,所述固定螺母的左侧上方设置有支撑柱,所述支撑柱的上方中间位置处设置有放物板,所述支撑柱的左侧设置有X轴滑动板,所述X轴滑动板的左侧设置有X轴调控旋钮。
优选的,所述滑动槽设置有四个,所述四个滑动槽均通过焊接的方式固定在操作台的外表面右侧。
优选的,所述连接杆设置有两个,所述放物台和操作台之间通过两个连接杆固定连接。
优选的,所述挡针架和挡板均设置有两个,所述两个挡针架均分布在探针的两侧,所述两个挡针架和两个挡板均通过焊接的方式固定连接。
优选的,所述横板和放物板之间通过支撑柱固定连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型结构科学合理,使用安全方便,在连接架上设置有抵扣,观测半导体芯片时,通过旋钮调节目孔焦距,随后通过抵扣固定观测口,避免观察台长时间工作后出现晃动,造成测试失误的问题,在测试时,通过调节滑动槽,滑动槽推动卡扣,把探针牢牢固定,在探针的两侧设置有两个挡针架,检测完成后,探针靠在挡针架上,避免测试时,因探针固定不稳定,出现测试失误的问题,放物台上设置有X轴调控旋钮和X轴滑动板,把测试的物品放置到X轴滑动板上,通过调节X轴调控旋钮使得物品移动方便,给使用者带来便利。
附图说明
图1为本实用新型的正面结构示意图;
图2为本实用新型的观察台结构示意图;
图3为本实用新型的操作台结构示意图;
图4为本实用新型的放物台结构示意图;
图中:1-观察台、2-操作台、3-底座、4-放物台、5-目孔、6-目镜支撑台、7-真空室、8-旋钮、9-观测口、10-连接架、11-抵扣、12-探针、13-挡针架、14-挡板、15-滑动槽、16-卡扣、17-针头固定板、18-X轴调控旋钮、19-放物板、20-支撑柱、21-连接杆、22-固定螺母、23-横板、24-X轴滑动板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津朴海永科技有限公司,未经天津朴海永科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201721026941.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于半导体芯片射频测试的夹具
- 下一篇:一种故障指示器