[实用新型]一种半导体芯片测试手动探针台

权利要求书

1.一种半导体芯片测试手动探针台，包括观察台(1)、目孔(5)、针头固定板(17)和横板(23)，其特征在于：所述观察台(1)的下方设置有操作台(2)，所述操作台(2)的下方中间位置处设置有放物台(4)，所述放物台(4)的下方设置有底座(3)，所述目孔(5)安装在观察台(1)的上方，所述目孔(5)的下方设置有目镜支撑台(6)，所述目镜支撑台(6)的下方中间位置处设置有真空室(7)，所述真空室(7)的右侧设置有旋钮(8)，所述真空室(7)的下方中间位置处设置有观测口(9)，所述真空室(7)的左侧设置有抵扣(11)，所述抵扣(11)的左侧下方设置有连接架(10)，所述针头固定板(17)安装在操作台(2)的上方，所述针头固定板(17)的右侧设置有探针(12)，所述探针(12)的右侧下方靠近针头固定板(17)的上表面设置有卡扣(16)，所述卡扣(16)的右侧上方设置有挡针架(13)，所述挡针架(13)的右侧下方设置有挡板(14)，所述挡板(14)的右侧设置有滑动槽(15)，所述横板(23)安装在放物台(4)的上方，所述横板(23)的右侧上方设置有固定螺母(22)，所述固定螺母(22)的右侧设置有连接杆(21)，所述固定螺母(22)的左侧上方设置有支撑柱(20)，所述支撑柱(20)的上方中间位置处设置有放物板(19)，所述支撑柱(20)的左侧设置有X轴滑动板(24)，所述X轴滑动板(24)的左侧设置有X轴调控旋钮(18)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试手动探针台，其特征在于：所述滑动槽(15)设置有四个，所述四个滑动槽(15)均通过焊接的方式固定在操作台(2)的外表面右侧。

3.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试手动探针台，其特征在于：所述连接杆(21)设置有两个，所述放物台(4)和操作台(2)之间通过两个连接杆(21)固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试手动探针台，其特征在于：所述挡针架(13)和挡板(14)均设置有两个，所述两个挡针架(13)均分布在探针(12)的两侧，所述两个挡针架(13)和两个挡板(14)均通过焊接的方式固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试手动探针台，其特征在于：所述横板(23)和放物板(19)之间通过支撑柱(20)固定连接。