[实用新型]易于检测的Frit线路结构及检测Frit是否异常的系统有效
| 申请号： | 201720651124.5 | 申请日： | 2017-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN207652752U | 公开（公告）日： | 2018-07-24 |
| 发明（设计）人： | 左文霞 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 主分类号： | H05K1/02 | 分类号： | H05K1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 201506 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种易于检测的Frit线路结构及检测Frit是否异常的系统，Frit下方的金属走线为多段式结构，每段金属走线的两端设有测量引线，测量引线引到端子区；检测时，用测量表连接每段金属走线的引线端子。本申请所述的一种检测Frit是否异常的系统，组成简单，测量结果稳定可靠。异常解析时可量测各金属段的Rs来判断金属及以下膜层有无断裂或裂痕；日常监控时可量测各金属段的Rs做参考判断Frit制程的稳定性。金属走线的异常判断过程快捷迅速。 | ||
| 搜索关键词： | 金属走线 检测 线路结构 金属 量测 测量 多段式结构 日常监控 异常判断 引线端子 测量表 端子区 种检测 裂痕 膜层 制程 申请 解析 断裂 参考 | ||
【主权项】：
1.一种易于检测的Frit线路结构，包括Frit下方的金属走线，将金属走线分为n段，n为整数，且n≥2，每段金属走线的两端均设置测量引线，并将测量引线引到端子区。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海和辉光电有限公司，未经上海和辉光电有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201720651124.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于高真空室和高气压室转接的高电压电极法兰
- 下一篇：一种易散热的印制线路板
