[实用新型]易于检测的Frit线路结构及检测Frit是否异常的系统

说明书

本申请提供一种易于检测的Frit线路结构及检测Frit是否异常的系统，Frit下方的金属走线为多段式结构，每段金属走线的两端设有测量引线，测量引线引到端子区；检测时，用测量表连接每段金属走线的引线端子。本申请所述的一种检测Frit是否异常的系统，组成简单，测量结果稳定可靠。异常解析时可量测各金属段的Rs来判断金属及以下膜层有无断裂或裂痕；日常监控时可量测各金属段的Rs做参考判断Frit制程的稳定性。金属走线的异常判断过程快捷迅速。

技术领域

本申请涉及电路板技术领域，具体的来说涉及一种易于检测的 Frit线路结构及一种检测Frit是否异常的系统。

背景技术

现行Frit制程异常会导致金属膜层较易出现断裂/基板裂纹等，造成产品功能失效或RA落摔或其它测试项目NG，解析多为OM人员查找，较费时费力或漏检，不易锁定异常区域。如图1所示，Frit 下方的金属走线为连续状，出现异常，很难查清具体异常部位。

所以解析通过Rs量测更快锁定Frit区域下膜层异常区域以确定 Frit异常区域。利于真因分析和后续日常监控。

发明内容

本申请所要解决的技术问题在于，克服现有技术中存在的问题，提供一种易于检测的Frit线路结构、及一种检测Frit是否异常的系统。

为了解决上述问题本申请的技术方案是这样的：

一种易于检测的Frit线路结构，包括Frit下方的金属走线，将金属走线分为n段，n为整数，且n≥2，每段金属走线的两端均设置测量引线，并将测量引线引到端子区。

检测上述Frit线路结构时，只需将测量表连接每段金属走线的引线端子，然后进行测量。

因此，本申请进一步提供一种检测Frit是否异常的系统，包括 Frit下方的金属走线，将金属走线分为n段，n为整数，且n≥2，每段金属走线的两端均设置测量引线，并将测量引线引到端子区；用测量表连接每段金属走线的引线端子。

所述引线在端子区设有PAD(缓冲器单元)。

本申请所述Frit线路是指将Frit玻璃熔料通过丝网印刷等方法附着在电路板上后所形成的牢固的金属电路系统。

当需要检测Frit是否异常时，用测量表依次量测每段金属走线的 Rs(电阻)，当Rs测量值异常，则锁定异常区域。

当所述金属走线有断线或裂纹时，Rs测量值会异常变大，依此来锁定异常区域。

测量时，用测量表连接每段金属走线的引线端子。

本申请有益效果：

(1)本申请所述的Frit线路结构，通过将金属走线分为多段，易于后续检测；

(2)本申请所述的一种检测Frit是否异常的系统，组成简单，测量方便，测量结果稳定可靠。异常解析时可量测各金属段的Rs来判断金属及以下膜层有无断裂或裂痕；日常监控时可量测各金属段的 Rs做参考判断Frit制程的稳定性。金属走线的异常判断过程快捷迅速。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式来详细说明本申请；

图1为现有技术中Frit下方的金属走线结构示意图。

图2为本申请所述的Frit下方的金属走线结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本申请。

参看图2，将Frit下方连续的金属走线1为多段式的(图示为 A，B，C，D，E五段，可依需求增多或减少)。