[实用新型]易于检测的Frit线路结构及检测Frit是否异常的系统有效
| 申请号： | 201720651124.5 | 申请日： | 2017-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN207652752U | 公开（公告）日： | 2018-07-24 |
| 发明（设计）人： | 左文霞 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 主分类号： | H05K1/02 | 分类号： | H05K1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 201506 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 金属走线 检测 线路结构 金属 量测 测量 多段式结构 日常监控 异常判断 引线端子 测量表 端子区 种检测 裂痕 膜层 制程 申请 解析 断裂 参考 | ||
【权利要求书】：
1.一种易于检测的Frit线路结构，包括Frit下方的金属走线，将金属走线分为n段，n为整数，且n≥2，每段金属走线的两端均设置测量引线，并将测量引线引到端子区。
2.根据权利要求1所述的一种易于检测的Frit线路结构，其特征在于，所述引线在端子区设有PAD。
3.一种检测Frit是否异常的系统，包括Frit下方的金属走线，将金属走线分为n段，n为整数，且n≥2，每段金属走线的两端均设置测量引线，并将测量引线引到端子区；用测量表连接每段金属走线的引线端子。
4.根据权利要求3所述的一种检测Frit是否异常的系统，其特征在于，所述引线在端子区设有PAD。
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