[实用新型]一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统有效

专利信息
申请号: 201720483820.X 申请日: 2017-05-03
公开(公告)号: CN206671422U 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 史书刚;韩玉成;杨成;陈天磊;朱威禹;黄伟训 申请(专利权)人: 中国振华集团云科电子有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R1/04
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 代理人: 余剑琴
地址: 550000 贵州省贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 实用新型提供一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统,涉及电阻测试设备领域,该电阻框架测试系统包括基板、电阻分析仪以及电阻框架测试夹具,该电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱、电阻测试装置,容置柱的一端与放置组件固定连接,电阻测试装置包括探针机构和限位组件,容置柱的侧面设置有第一条形孔,探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动,探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧,限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接,用以控制探针机构的滑动。相较于现有技术,本实用新型提供的电阻框架测试夹具夹持稳定,提高了测量精度,总体使得测试数据准确,重复测量效果好。
搜索关键词: 一种 电阻 框架 测试 夹具 以及 系统
【主权项】:
一种电阻框架测试夹具,用于夹持电阻框架,其特征在于,所述电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置,所述容置柱的一端与所述放置组件固定连接,所述电阻测试装置包括探针机构和限位组件,所述容置柱的侧面设置有第一条形孔,所述第一条形孔的延伸方向与所述容置柱的延伸方向一致,所述探针机构的一端穿过所述第一条形孔并可沿所述第一条形孔滑动,所述探针机构的另一端悬置于所述放置组件的一侧并可选择性地抵持于所述放置组件的一侧,所述限位组件设置在所述容置柱上并与所述探针机构连接,用以控制所述探针机构的滑动。
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