[实用新型]一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及电阻测试设备领域，具体而言，涉及一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统。

背景技术

在工业生产中，往往需要对生产出的工业产品进行电阻测试，以测定其电阻率。特别地，对于一些特定的采样电阻框架的测试需要精准的将电阻框架的阻值进行阻值分段，以便于调阻时候统一使用整体减薄的方法来进行调阻，使其达到规定的电阻精度，提高合格率。

采样电阻采用精密合金进行制作，前段制程使用冲压工艺，调阻采用统一减薄的方法，这种方法要想提高产品的合格率，就要想办法将冲压框架的来料的阻值保持稳定，不离散。而该电阻为了生产的需要，必须采用阵列式排布，来进行规模化生产。这就导致电阻框架很长，要想将电阻框架的阻值尽量的集中不至于离散，就要将每一个进行精准的测试，于是就要将框架的测试点、测试的压力、测试的方式等统一起来。经发明人调研发现，现有的测试方法通常是通过手工来对电阻框架进行测试，由于每个人测试的习惯不同，测试点不同，测试的压力也不同，就导致无法得到一个可信的数据来知道我们进行整体减薄调阻。

有鉴于此，设计制造出一种能够固定测试压力和测试点位置的电阻框架测试夹具显得尤为重要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电阻框架测试夹具，夹持稳定，提高了测量精度，总体使得测试数据准确，重复测量效果好。

本实用新型的另一目的在于提供一种电阻框架测试系统，测试精度高，测试数据准确。

本实用新型是采用以下的技术方案来实现的。

一种电阻框架测试夹具，用于夹持电阻框架，电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置，容置柱的一端与放置组件固定连接，电阻测试装置包括探针机构和限位组件，容置柱的侧面设置有第一条形孔，第一条形孔的延伸方向与容置柱的延伸方向一致，探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧，限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接，用以控制探针机构的滑动。

进一步地，探针机构包括多根探针、承载板和电阻分析接口，承载板的一端伸入第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，多根探针设置于承载板的底部且远离容置柱，多根探针可选择性地抵持于放置组件，并夹持电阻框架，电阻分析接口设置在承载板上并与多根探针电性连接。

进一步地，探针的根数为4根，采用四线探针法对电阻框架进行测量电阻率的操作。

进一步地，4根探针两两相对设置，每根探针的延伸方向相互平行。

进一步地，探针为导电金属探针。

进一步地，限位组件包括限位把手、探针下压限位件和弹性件，容置柱的侧面还设置有第二条形孔，限位把手的一端伸入第二条形孔并可沿第二条形孔滑动，限位把手伸入第二条形孔的一端与探针机构固定连接，探针下压限位件设置于容置柱的侧面上且靠近第二条形孔，用于止挡限位把手，弹性件的一端抵接于放置台，另一端抵接于探针机构。

进一步地，弹性件为一压缩弹簧。

进一步地，放置组件包括基台和放置板，容置柱的底部固定连接于基台，放置板可拆卸地设置在基台上并与探针机构相对应。

进一步地，放置板上设置有测试槽，测试槽的延伸方向与放置板的延伸方向一致，用于放置电阻框架。

一种电阻框架测试系统，用于测试电阻框架的电阻率，包括基板、电阻分析仪以及电阻框架测试夹具，电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置，容置柱的一端与放置组件固定连接，电阻测试装置包括探针机构和限位组件，容置柱的侧面设置有第一条形孔，第一条形孔的延伸方向与容置柱的延伸方向一致，探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧，限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接，用以控制探针机构的滑动。放置组件可拆卸地设置在基板上，电阻分析仪与探针机构电性连接，用于分析电阻框架的电阻率。

本实用新型具有以下有益效果：