[实用新型]一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统有效
申请号: | 201720483820.X | 申请日: | 2017-05-03 |
公开(公告)号: | CN206671422U | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 史书刚;韩玉成;杨成;陈天磊;朱威禹;黄伟训 | 申请(专利权)人: | 中国振华集团云科电子有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02;G01R1/04 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人: | 余剑琴 |
地址: | 550000 贵州省贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电阻 框架 测试 夹具 以及 系统 | ||
1.一种电阻框架测试夹具,用于夹持电阻框架,其特征在于,所述电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置,所述容置柱的一端与所述放置组件固定连接,所述电阻测试装置包括探针机构和限位组件,所述容置柱的侧面设置有第一条形孔,所述第一条形孔的延伸方向与所述容置柱的延伸方向一致,所述探针机构的一端穿过所述第一条形孔并可沿所述第一条形孔滑动,所述探针机构的另一端悬置于所述放置组件的一侧并可选择性地抵持于所述放置组件的一侧,所述限位组件设置在所述容置柱上并与所述探针机构连接,用以控制所述探针机构的滑动。
2.根据权利要求1所述的电阻框架测试夹具,其特征在于,所述探针机构包括多根探针、承载板和电阻分析接口,所述承载板的一端伸入所述第一条形孔并可沿所述第一条形孔滑动,多根所述探针设置于所述承载板的底部且远离所述容置柱,多根所述探针可选择性地抵持于所述放置组件,所述电阻分析接口设置在所述承载板上并与多根所述探针电性连接。
3.根据权利要求2所述的电阻框架测试夹具,其特征在于,所述探针的根数为4根。
4.根据权利要求3所述的电阻框架测试夹具,其特征在于,4根所述探针两两相对设置,每根所述探针的延伸方向相互平行。
5.根据权利要求2所述的电阻框架测试夹具,其特征在于,所述探针为导电金属探针。
6.根据权利要求1所述的电阻框架测试夹具,其特征在于,所述限位组件包括限位把手、探针下压限位件和弹性件,所述容置柱的侧面还设置有第二条形孔,所述限位把手的一端伸入所述第二条形孔并可沿所述第二条形孔滑动,所述限位把手伸入所述第二条形孔的一端与所述探针机构固定连接,所述探针下压限位件设置于所述容置柱的侧面上且靠近所述第二条形孔,用于止挡所述限位把手,所述弹性件的一端抵接于所述放置台,另一端抵接于所述探针机构。
7.根据权利要求6所述的电阻框架测试夹具,其特征在于,所述弹性件为一压缩弹簧。
8.根据权利要求1所述的电阻框架测试夹具,其特征在于,所述放置组件包括基台和放置板,所述容置柱的底部固定连接于所述基台,所述放置板可拆卸地设置在所述基台上并与所述探针机构相对应。
9.根据权利要求8所述的电阻框架测试夹具,其特征在于,所述放置板上设置有测试槽,所述测试槽的延伸方向与所述放置板的延伸方向一致,用于放置所述电阻框架。
10.一种电阻框架测试系统,用于测试电阻框架的电阻率,其特征在于,包括基板、电阻分析仪以及如权利要求1-9任一项所述的电阻框架测试夹具,所述放置组件可拆卸地设置在所述基板上,所述电阻分析仪与所述探针机构电性连接,用于分析所述电阻框架的电阻率。
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