[实用新型]多路摄像模组老化测试装置有效

专利信息
申请号: 201720110983.3 申请日: 2017-02-06
公开(公告)号: CN207123379U 公开(公告)日: 2018-03-20
发明(设计)人: 杨金彪 申请(专利权)人: 湖北三赢兴电子科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 代理人: 程殿军,张瑾
地址: 437400 湖北省咸*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型提供了一种多路摄像模组老化测试装置,该装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组。电压转化芯片将输入电源输入的电压进行电压转换,并利用转换后的电压为第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电;第一LDO芯片为若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电,第二LDO芯片为若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电,第三LDO芯片为若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电,第四LDO芯片为若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电,从而完成同时对多路摄像模组老化测试,效率高,不需要软件控制和外部电路控制,操作简单,并且成本低廉。
搜索关键词: 摄像 模组 老化 测试 装置
【主权项】:
一种多路摄像模组老化测试装置,其特征在于,所述装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组;所述输入电源与所述电压转化芯片连接,所述电压转换芯片与所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片连接,所述电压转化芯片将所述输入电源输入的电压进行电压转换,利用转换后的电压为所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电;所述第一LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AVDD接口连接,实现第一LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电;所述第二LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AFVCC接口连接,实现第二LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电;所述第三LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DVDD接口连接,实现第三LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电;所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DOVDD接口连接,实现第四LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电,从而完成同时对多路摄像模组老化测试。
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