[实用新型]多路摄像模组老化测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测领域，尤其涉及一种多路摄像模组老化测试装置。

背景技术

在摄像模组老化的实验中，利用模组点亮测试工装盒来做该老化实验，一个模组点亮测试工装盒同时只能老化一个模组，效率低，并且用模组点亮测试工装盒老化摄像模组需要配合电脑以及客户端软件来配合，操作复杂，非常不方便，同时老化成本较高。

实用新型内容

针对现有技术中老化设项目组的试验中效率低、操作复杂、成本高的技术问题，提供了一种多路摄像模组老化测试装置。

本实用新型提供了一种多路摄像模组老化测试装置，所述装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组；

所述输入电源与所述电压转化芯片连接，所述电压转换芯片与所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片连接，所述电压转化芯片将所述输入电源输入的电压进行电压转换，利用转换后的电压为所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电；

所述第一LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AVDD接口连接，实现第一LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电；所述第二LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AFVCC接口连接，实现第二LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电；所述第三LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DVDD接口连接，实现第三LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电；所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DOVDD接口连接，实现第四LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电，从而完成同时对多路摄像模组老化测试。

优选地，所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的RESET以及PWDN连接。

优选地，所述输入电源的输出电压为+4.5V～+18V。

优选地，所述电压转化芯片为DC TO DC芯片。

优选地，所述电压转化芯片的输出电压为3.3V。

优选地，所述电压转化芯片为TPS54627芯片。

优选地，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的输出电压为0.5*(1+R1/R2)，其中R1、R2为电阻。

优选地，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片为输出电压可调芯片。

优选地，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R2的阻值固定，电阻R1的阻值可调。

优选地，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R1的阻值通过跳帽方式调节。

由上述技术方案可知，本实用新型提供一种多路摄像模组老化测试装置，该装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组；输入电源与电压转化芯片连接，电压转换芯片与第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片连接，电压转化芯片将输入电源输入的电压进行电压转换，并利用转换后的电压为第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电；第一LDO芯片与若干个摄像模组的各AVDD接口连接，实现第一LDO芯片为若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电；第二LDO芯片与若干个摄像模组的各AFVCC接口连接，实现第二LDO芯片为若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电；第三LDO芯片与若干个摄像模组的各DVDD接口连接，实现第三LDO芯片为若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电；第四LDO芯片与若干个摄像模组的各DOVDD接口连接，实现第四LDO芯片为若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电，从而完成同时对多路摄像模组老化测试，效率高，不需要软件控制和外部电路控制，操作简单，并且成本低廉。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些图获得其他的附图。

图1是本实用新型的一个较佳实施例的多路摄像模组老化测试装置的结构示意图；

图2A、2B、2C、2D、2E、2F、2G是本实用新型的一个较佳实施例的多路摄像模组老化测试装置的电路图；