[实用新型]多路摄像模组老化测试装置有效
申请号: | 201720110983.3 | 申请日: | 2017-02-06 |
公开(公告)号: | CN207123379U | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 杨金彪 | 申请(专利权)人: | 湖北三赢兴电子科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 | 代理人: | 程殿军,张瑾 |
地址: | 437400 湖北省咸*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 摄像 模组 老化 测试 装置 | ||
1.一种多路摄像模组老化测试装置,其特征在于,所述装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组;
所述输入电源与所述电压转化芯片连接,所述电压转换芯片与所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片连接,所述电压转化芯片将所述输入电源输入的电压进行电压转换,利用转换后的电压为所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电;
所述第一LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AVDD接口连接,实现第一LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电;所述第二LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AFVCC接口连接,实现第二LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电;所述第三LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DVDD接口连接,实现第三LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电;所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DOVDD接口连接,实现第四LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电,从而完成同时对多路摄像模组老化测试。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的RESET以及PWDN连接。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述输入电源的输出电压为+4.5V~+18V。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述电压转化芯片为DC TO DC芯片。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述电压转化芯片的输出电压为3.3V。
6.根据权利要求4或5所述的装置,其特征在于,所述电压转化芯片为TPS54627芯片。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的输出电压为0.5*(1+R1/R2)V,其中R1为第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的电阻,R2为第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的电阻。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片为输出电压可调芯片。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R2的阻值固定,电阻R1的阻值可调。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R1的阻值通过跳帽方式调节。
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