[实用新型]多路摄像模组老化测试装置有效

专利信息
申请号: 201720110983.3 申请日: 2017-02-06
公开(公告)号: CN207123379U 公开(公告)日: 2018-03-20
发明(设计)人: 杨金彪 申请(专利权)人: 湖北三赢兴电子科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 代理人: 程殿军,张瑾
地址: 437400 湖北省咸*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 摄像 模组 老化 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种多路摄像模组老化测试装置,其特征在于,所述装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组;

所述输入电源与所述电压转化芯片连接,所述电压转换芯片与所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片连接,所述电压转化芯片将所述输入电源输入的电压进行电压转换,利用转换后的电压为所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电;

所述第一LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AVDD接口连接,实现第一LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电;所述第二LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AFVCC接口连接,实现第二LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电;所述第三LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DVDD接口连接,实现第三LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电;所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DOVDD接口连接,实现第四LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电,从而完成同时对多路摄像模组老化测试。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的RESET以及PWDN连接。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述输入电源的输出电压为+4.5V~+18V。

4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述电压转化芯片为DC TO DC芯片。

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述电压转化芯片的输出电压为3.3V。

6.根据权利要求4或5所述的装置,其特征在于,所述电压转化芯片为TPS54627芯片。

7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的输出电压为0.5*(1+R1/R2)V,其中R1为第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的电阻,R2为第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的电阻。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片为输出电压可调芯片。

9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R2的阻值固定,电阻R1的阻值可调。

10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R1的阻值通过跳帽方式调节。

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