[实用新型]一种深紫外探测器有效
| 申请号: | 201720051168.4 | 申请日: | 2017-01-16 |
| 公开(公告)号: | CN206471340U | 公开(公告)日: | 2017-09-05 |
| 发明(设计)人: | 孙卿;吕志勤;罗绍军;杨福华;汤磊 | 申请(专利权)人: | 中蕊(武汉)光电科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/0304;H01L31/105 |
| 代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司42104 | 代理人: | 俞鸿 |
| 地址: | 430074 湖北省武汉市东湖新*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | 本实用新型公开了一种深紫外探测器。它包括透明的衬底,所述衬底上生长的成核层,成核层上生长的缓冲层,缓冲层上依次生长的有n型AlGaN层,周期性结构AlN/AlaGa1‑aN阻挡层,周期性结构AlN/AlbGa1‑bN吸收层,AlN限制层,周期性结构AlN/AlcGa1‑cN阻挡层,p型GaN层;所述AlN/AlaGa1‑aN阻挡层中每个周期的AlN厚度、AlN/AlcGa1‑cN阻挡层中每个周期的AlN厚度、AlN/AlbGa1‑bN吸收层中每个周期的AlN厚度为0.4nm‑1.5nm;其中0≤b<a<c<1。本发明外延结构实现了不加滤光片吸收峰值波长在250nm—280nm的深紫外探测。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 深紫 探测器 | ||
【主权项】:
一种深紫外探测器,它包括透明的衬底,所述衬底上生长的成核层,成核层上生长的缓冲层,其特征在于缓冲层上依次生长的有n型AlGaN层,周期性结构AlN/AlaGa1‑aN阻挡层,周期性结构AlN/AlbGa1‑bN吸收层,AlN限制层,周期性结构AlN/AlcGa1‑cN阻挡层,p型GaN层;所述AlN/AlaGa1‑aN阻挡层中每个周期的AlN厚度、AlN/AlcGa1‑cN阻挡层中每个周期的AlN厚度、AlN/AlbGa1‑bN吸收层中每个周期的AlN厚度为0.4nm‑1.5nm;其中0≤b<a<c<1;p型GaN层上连接p型欧姆接触电极合金,n型AlGaN层上连接n型欧姆接触电极合金。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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