[实用新型]一种深紫外探测器有效

专利信息
申请号: 201720051168.4 申请日: 2017-01-16
公开(公告)号: CN206471340U 公开(公告)日: 2017-09-05
发明(设计)人: 孙卿;吕志勤;罗绍军;杨福华;汤磊 申请(专利权)人: 中蕊(武汉)光电科技有限公司
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/0304;H01L31/105
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司42104 代理人: 俞鸿
地址: 430074 湖北省武汉市东湖新*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 深紫 探测器
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于氮化镓半导体的应用技术领域,具体涉及一种将氮化镓半导体用于紫外光探测的器件,特别是280nm波长以下的深紫波段的探测的器件。

背景技术

太阳是自然界最强的紫外光源,其280nm波长以下的深紫波段几乎被臭氧层完全吸收,这一波段的紫外线几乎无法到达地面,因此把波长在200nm-280nm的紫外光称为日盲区。相应地,人们将只对200nm-280nm波段深紫外光产生响应信号的探测器称为日盲(或太阳盲)探测器。在低空和地面探测到的该波段紫外光信号一般是来自人工发射源,如弹药爆炸、火灾、环境污染等。因此,日盲深紫外探测器在光电对抗、导弹预警、防爆抑爆、水质监测、臭氧监测等军事和民用众多领域有重要的应用意义。

目前市场常见的紫外探测器有硅基紫外光电管和光电倍增管。硅基探测器因其制作材料的Si的禁带宽度为1.12ev,使得其探测器主要应用在可见光波段,通常需要在硅探测器前端加上结构复杂、价格昂贵的滤光系统来除去干扰。光电倍增管虽然有增益大、灵敏度高、响应快、稳定性好等优点,但是其体积大、能耗大、抗辐射能力差、工作电压高、易破损坏等缺点,在一定程度上限制了其应用。

基于上述传统紫外探测器的缺点,抗辐射能力强的宽禁带半导体材料得到了广泛关注,如SiC、ZnMgO、GaN等。这些宽带隙半导体材料具有禁带宽度宽、电子饱和速度高、介电常数小、抗辐射能力强等优点,非常适合作为紫外探测器材料。SiC是禁带宽度不可调节的间接带隙材料,熔点高、导热性好,其禁带宽度是3.26eV,对应的响应峰值波长在380nm左右,这个波段在日光中有超过98%能穿透臭氧层和云层到达地球表面,对器件的干扰较大,要用于200nm-280nm波段的深紫外探测时需要加紫外滤光片。通过调节ZnMgO的Mg组分,可实现禁带宽度从3.3eV到7.8eV可调的直接带隙ZnMgO合金,但不发生结构分相的高Mg组分ZnMgO合金仍然是技术壁垒,实现深紫外探测同样需要加紫外滤光片。

GaN基的AlGaN深紫外探测器与上述传统紫外探测器相比具有独特的优势。GaN掺Al可实现禁带宽度从3.4eV到6.2eV可调的直接带隙AlGaN合金,可制作响应峰值波长在200nm—365nm的高响应紫外探测器。体材料的AlGaN探测器工作波长处于日盲区(280nm以下),Al组分必须高于40%。目前较高晶体质量的高Al组分AlGaN材料很难实现,一般都存在较大的缺陷和位错密度;而且实现较高浓度的P型AlGaN材料也很困难。这些问题严重制约了AlGaN深紫外探测器的发展。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种基于氮化镓基的PIN型的深紫外探测器,能够实现波长在200nm-280nm的紫外光探测。

为实现本发明的目的,本发明提供深紫外探测器的技术方案为:

它包括透明的衬底,所述衬底上生长的成核层,成核层上生长的缓冲层,其特征在于缓冲层上依次生长的有n型AlGaN层,周期性结构AlN/AlaGa1-aN阻挡层,周期性结构AlN/AlbGa1-bN吸收层,AlN限制层,周期性结构AlN/AlcGa1-cN阻挡层,p型GaN层;所述AlN/AlaGa1-aN阻挡层中每个周期的AlN厚度、AlN/AlcGa1-cN阻挡层中每个周期的AlN厚度、AlN/AlbGa1-bN吸收层中每个周期的AlN厚度为0.4nm-1.5nm;其中0≤b<a<c<1,;p型GaN层上连接p型欧姆接触电极合金,n型AlGaN层上连接n型欧姆接触电极合金。

特别的:AlN/AlaGa1-aN阻挡层首层为垒材料AlN层,其次为阱材料AlaGa1-aN层,接着重复周期垒材料AlN层、阱材料AlaGa1-aN层,最后一层为垒材料AlN层;总厚度为50-500nm。上述的周期性结构的AlN/AlaGa1-aN阻挡层设置能够实现:晶体质量良好且禁带宽度大于5.5eV的阻挡层,有效限制吸收区的载流子,从而提高内量子效率。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中蕊(武汉)光电科技有限公司,未经中蕊(武汉)光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720051168.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top