[发明专利]三维测量装置有效
申请号: | 201711432606.2 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN108253886B | 公开(公告)日: | 2021-07-02 |
发明(设计)人: | 本间达朗;里吉宽之 | 申请(专利权)人: | 株式会社基恩士 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 李铭;陈源 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种能够在短时间内容易地对测量对象的期望部分的三维形状进行测量的三维测量装置。接收到用户对高度测量点和尺寸测量部分的指派。通过成像部分(220)获取测量对象(S)的图像。从发光部分(231)发射的光通过偏转部分(270)偏转,并且辐射至测量对象(S)上。偏转部分(270)被控制为将光辐射至测量对象(S)的对应于高度测量点的部分上。通过光接收部分接收来自测量对象(S)的光,并且输出指示接收到的光量的光接收信号。基于从光接收部分输出的光接收信号来计算测量对象(S)的与指派的高度测量点相对应的部分的高度。基于通过成像部分(220)获取的图像来计算测量对象(S)的与指派的尺寸测量部分相对应的部分的尺寸。 | ||
搜索关键词: | 三维 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种三维测量装置,其测量布置在测量区域中的测量对象的尺寸,所述三维测量装置包括:高度测量信息获取部分,其被构造为接收高度测量点的指派;尺寸测量信息获取部分,其被构造为接收用于测量在与高度方向正交的方向上的尺寸的尺寸测量部分的指派;成像部分,其被构造为获取布置在所述测量区域中的测量对象的图像;发光部分,其被构造为发射第一光;偏转部分,其被构造为使从所述发光部分发射的第一光偏转,并且将所述第一光辐射至所述测量对象上;光接收部分,其被构造为从所述测量对象接收所述第一光并且输出指示接收到的光量的光接收信号;驱动控制部分,其被构造为控制所述偏转部分以将所述第一光辐射至所述测量对象的与由所述高度测量信息获取部分接收到的高度测量点相对应的部分上;高度计算部分,其被构造为基于通过所述光接收部分输出的光接收信号来计算所述测量对象的对应于所述高度测量点的部分的高度;以及尺寸计算部分,其被构造为基于通过所述成像部分获取的测量对象的图像来计算所述测量对象的与由所述尺寸测量信息获取部分接收到的尺寸测量部分相对应的部分的尺寸。
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