[发明专利]一种SSD介质的健康度处理方法、SSD控制器及磁盘阵列有效
| 申请号： | 201711241443.X | 申请日： | 2017-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN109857333B | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 孔维镇;王金伟;单明星 | 申请（专利权）人： | 深圳市海思半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人： | 王仲凯 |
| 地址： | 518129 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种SSD介质的健康度处理方法、SSD控制器及磁盘阵列。该方法包括，每隔物理擦写次数PPE周期对磁盘阵列RAID中每个块Block的出错比特数进行采集，并根据采集的每个Block的出错比特数计算RAID的第一原始出错比特率RBER信息，RAID由固态硬盘SSD介质组成；根据第一RBER信息和从SSD所在系统获取的PPE信息计算RAID的健康信息；将健康信息刷新至RAID的健康表项中，健康表项供系统用于监控RAID并控制RAID的磨损均衡。本申请实施例方法能够结合每个Block自身的可靠性，利用RBER信息和PPE信息，减缓或加速健康因子EPE的递增趋势，更好地对SSD盘进行磨损均衡，提升总体写入数据量，从而延长SSD盘的寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ssd 介质 健康 处理 方法 控制器 磁盘阵列 | ||
【主权项】：
1.一种SSD介质的健康度处理方法，其特征在于，包括：每隔物理擦写次数PPE周期对磁盘阵列RAID中每个块Block的出错比特数进行采集，并根据采集的每个Block的出错比特数计算所述RAID的第一原始出错比特率RBER信息，所述RAID由所述固态硬盘SSD介质组成；根据所述第一RBER信息和从所述SSD所在系统获取的PPE信息计算RAID的健康信息；将所述健康信息刷新至所述RAID的健康表项中，所述健康表项供所述系统用于监控所述RAID并控制所述RAID的磨损均衡。
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