[发明专利]一种SSD介质的健康度处理方法、SSD控制器及磁盘阵列

权利要求书

1.一种SSD介质的健康度处理方法，其特征在于，包括：

每隔物理擦写次数PPE周期对磁盘阵列RAID中每个块Block的出错比特数进行采集，并根据采集的每个Block的出错比特数计算所述RAID的第一原始出错比特率RBER信息，所述RAID由所述固态硬盘SSD介质组成；

根据所述第一RBER信息和从所述SSD所在系统获取的PPE信息计算RAID的健康信息；

将所述健康信息刷新至所述RAID的健康表项中，所述健康表项供所述系统用于监控所述RAID并控制所述RAID的磨损均衡。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据采集的每个Block的出错比特数计算所述RAID的第一原始出错比特率RBER值包括：

对于每个Block，读取所述Block中m个页Page的出错比特数，并根据所述m个Page的出错比特数计算所述Block的第二RBER信息，所述m为正整数；

根据所述RAID中的每个Block的第二RBER信息计算所述RAID的第一RBER信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述m个Page的出错比特数计算所述Block的第二RBER信息包括：

根据所述m个Page的m个出错比特数以及采用如下公式计算所述Block的第二RBER信息；

其中，所述x_i为m个出错比特数中的第i个出错比特数。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述RAID包括n个Block，所述n为正整数，所述根据所述RAID中的每个Block的第二RBER信息计算所述RAID的第一RBER信息包括；

根据所述RAID中的每个Block的第二RBER信息以及如下公式计算所述RAID的第一RBER信息采用如下公式；

其中，所述x_i为n个第二RBER信息中的第i个第二RBER信息。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述健康信息包括健康因子HIF、EPE递增因子S和有效擦写次数EPE，所述根据所述第一RBER值和从所述SSD所在系统获取的PPE信息计算RAID的健康信息包括：

根据所述第一RBER信息和所述PPE信息以及如下公式计算所述RAID的HIF；

HIF＝W(PPE,RBER)＝α*PPE+β*RBER，其中，所述α和所述β均大于等于零；

根据所述HIF以及如下公式计算所述S；

S＝V(HIF)，其中，所述公式V为分区间映射公式；

根据如下公式和所述S计算当前PPE周期的EPE；

EPE₂＝EPE₁+S，其中EPE₂为当前PPE周期的EPE，EPE₁为上一PPE周期的EPE。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述每隔PPE周期对磁盘阵列RAID中每个块Block的出错比特数进行采集之前，所述方法还包括：

根据所述RAID的当前状态识别当前场景；当所述当前场景为第一场景时，执行所述每隔PPE周期对磁盘阵列RAID中每个块Block的出错比特数进行采集；当所述当前场景为第二场景时，将所述健康信息刷新至所述RAID的健康表项中。

7.一种SSD控制器，用于采用固态硬盘SSD介质的RAID，其特征在于，包括：

采集模块，用于每隔PPE周期对磁盘阵列RAID中每个块Block的出错比特数进行采集，并根据采集的每个Block的出错比特数计算所述RAID的第一原始出错比特率RBER信息；

计算模块，用于根据所述第一RBER信息和从所述SSD所在系统获取的PPE信息计算RAID的健康信息；

刷新模块，用于将所述健康信息刷新至所述RAID的健康表项中，所述健康表项供所述系统用于监控所述RAID并控制所述RAID的磨损均衡。