[发明专利]一种SSD介质的健康度处理方法、SSD控制器及磁盘阵列

说明书

本申请实施例公开了一种SSD介质的健康度处理方法、SSD控制器及磁盘阵列。该方法包括，每隔物理擦写次数PPE周期对磁盘阵列RAID中每个块Block的出错比特数进行采集，并根据采集的每个Block的出错比特数计算RAID的第一原始出错比特率RBER信息，RAID由固态硬盘SSD介质组成；根据第一RBER信息和从SSD所在系统获取的PPE信息计算RAID的健康信息；将健康信息刷新至RAID的健康表项中，健康表项供系统用于监控RAID并控制RAID的磨损均衡。本申请实施例方法能够结合每个Block自身的可靠性，利用RBER信息和PPE信息，减缓或加速健康因子EPE的递增趋势，更好地对SSD盘进行磨损均衡，提升总体写入数据量，从而延长SSD盘的寿命。

技术领域

本申请涉及存储技术领域，具体涉及一种SSD介质的健康度处理方法、SSD控制器及磁盘阵列。

背景技术

固态硬盘(Solid State Disk，SSD)由控制单元和存储单元组成，存储单元例如快闪记忆体(Nand Flash)，对于此类存储单元来说，影响该Nand Flash的健康程度的因素主要包括三种，第一种是颗粒的物理擦写次数(Physical Program/Erase，PPE)，第二种是保持时间(Retention)，第三种是读取次数(Read)，其中PPE对Nand Flash的影响是不可恢复性的；Retention或Read的影响是可恢复的，对颗粒重新擦写一次，影响便会消除。

控制单元例如SSD控制器，使用过程中，需要设定特定的参数来衡量Nand Flash当前的健康程度，以此上报使用该SSD的系统预知该SSD的使用寿命；利用该参数匹配磨损均衡算法使得SSD盘片内部所有块(Block)的健康度保持一致，达到充分利用每个Block的目的，最大程度延长SSD使用寿命。

目前大部分SSD控制器是以PPE作为健康因子来衡量健康度，并且控制磨损均衡。系统内部会开辟一片空间存储每个Block的PPE次数，当某个Block的数据被擦除后，该Block的PPE值递增1。

然而这种方式由于核心到核心的变化(die-to-die variation)和块到块的变化(block-to-block variation)，SSD内部不同Block的可使用的PPE次数并不一致，若单纯以PPE作为健康度因子，会使得盘片内部Block的PPE次数趋向于一致，当PPE次数达到平均最大磨损能力时，预示着盘片达到寿命终点，因此不能很好地发挥每个Block的最大磨损能力。

发明内容

本申请实施例提供了一种SSD介质的健康度处理方法、SSD控制器及磁盘阵列来解决目前采用PPE作为健康因子来衡量健康度，并且控制磨损均衡带来的SSD的Block的最大磨损能力未充分使用的问题。

本申请实施例的第一方面提供一种SSD介质的健康度处理方法，该方法中，每隔PPE周期便会对由SSD介质组成的RAID中的每个Block的出错比特数进行采集，并且根据采集到的每个Block的出错比特数计算所述RAID的第一原始出错比特率(Raw Bit ErrorRate，RBER)信息；接着，在具有了第一RBER信息后，便可以根据所述第一RBER信息和从所述SSD所在系统获取的PPE信息计算RAID的健康信息，最后以该健康信息作为衡量Block的健康度的健康因子，将该健康信息刷新至所述RAID的健康表项中，使得磨损均衡算法采用该健康进行进行磨损均衡。

可以看出，由于并非简单的使用PPE作为衡量所有Block的参数，而是根据不同的Block的出错比特数为基础来计算RAID的第一RBER信息，该第一RBER信息能够很好的反应每个Block的健康程度，接着将该RBER结合PPE计算出健康信息，结合每个Block自身的可靠性，利用RBER信息和PPE信息，减缓或加速健康因子EPE的递增趋势，更好地对SSD盘进行磨损均衡，提升总体写入数据量，从而延长SSD盘的寿命。