[发明专利]一种仪器移站无需再学习的自动变形监测方法有效
申请号: | 201711160314.8 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN108195341B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 潘国荣;范伟 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | G01B21/32 | 分类号: | G01B21/32 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 应小波 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种仪器移站无需再学习的自动变形监测方法,该方法通过首次学习或者输入监测点的坐标,当全站仪发生移动时,只需将全站仪架设于任意合适的位置,整平无需对中,然后通过观测非变形区的两个或三个固定点进行自由设站,便可继续对变形区的监测点进行监测记录,从而省去了再次学习的过程。与现有技术相比,本发明具有大大节省系统设置的作业时间等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 仪器 无需 学习 自动 变形 监测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种仪器移站无需再学习的自动变形监测方法,其特征在于,该方法通过首次学习或者输入监测点的坐标,当全站仪发生移动时,只需将全站仪架设于任意合适的位置,整平无需对中,然后通过观测非变形区的两个或三个固定点进行自由设站,便可继续对变形区的监测点进行监测记录,从而省去了再次学习的过程。
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