[发明专利]一种防止热传导的晶圆吸附装置有效

专利信息
申请号: 201711159915.7 申请日: 2017-11-20
公开(公告)号: CN109817560B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 王若愚 申请(专利权)人: 沈阳芯源微电子设备股份有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 白振宇
地址: 110168 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明属于半导体生产制造领域,具体地说是一种防止热传导的晶圆吸附装置,承片台的上表面分别设有内密封环及外密封环,内、外密封环之间形成环形的真空腔,内密封环的内部为常压腔;真空腔内设置有承片凸台,并在真空腔内的承片台上开设有真空孔;常压腔内的承片台上分别开有示教孔及常压腔排气孔;承片台下部的吸盘颈的内孔中设有环状凸台,电机轴由吸盘颈的内孔插入、仅与环状凸台连接,电机轴上开设有电机轴中空孔,真空孔的一端与真空腔相连通,另一端与电机轴中空孔相连通;晶圆放置在承片台上,由承片凸台及内、外密封环支撑,常压腔排气孔的一端与常压腔相连通,另一端与承片台下部的大气相连通。本发明可以有效避免由电机高速旋转带来的晶圆温度变化。
搜索关键词: 一种 防止 热传导 吸附 装置
【主权项】:
1.一种防止热传导的晶圆吸附装置,包括承载晶圆的承片台,该承片台与电机的电机轴相连,通过所述电机驱动带动晶圆旋转;其特征在于:所述承片台(15)的上表面分别设有内密封环(1)及外密封环(2),该内、外密封环(1、2)之间形成环形的真空腔(10),所述内密封环(1)的内部为常压腔(11);所述真空腔(10)内设置有承片凸台(4),并在真空腔(10)内的承片台(15)上开设有真空孔(5);所述常压腔(11)内的承片台(15)上分别开有示教孔(6)及常压腔排气孔(3);所述承片台(15)下部的吸盘颈(7)的内孔中设有环状凸台(12),所述电机轴(8)由吸盘颈(7)的内孔插入、仅与所述环状凸台(12)连接,该电机轴(8)上开设有电机轴中空孔(13),所述真空孔(5)的一端与真空腔(10)相连通,另一端与所述电机轴中空孔(13)相连通;所述晶圆(9)放置在承片台(15)上,由所述承片凸台(4)及内、外密封环(1、2)支撑,所述常压腔排气孔(3)的一端与常压腔(11)相连通,另一端与所述承片台(15)下部的大气相连通。
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